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    型号:HCWP-S

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    高低温介电温谱测试仪器适用于铁电压电陶瓷材料、各种金属氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃半导体器件及功能薄膜材料等研究。 用于分析宽频、高低温条件下被测样品的介电系数、阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、因数Q等物理量。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料的应用研究科研机关、高校、工厂等地方。
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    导电与防静电材料体积电阻率测试仪偏差1/60, 16mm 大口径三轴连接器 电流输入端口采用大口径三轴连接器,是将内部蔽连接至 GUARD(COM) 线,外部屏蔽连接至 GROU的 3 层同轴设计。 兼顾抗干扰的稳定性和高压检查时的an全性。 升级了的2kV浮动电路 HC浮动电路与三轴连接器组合使用可效增强对电源干扰或外来干扰的稳定性(重复精度)大幅提升。普通
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    华测仪器高阻高压表的主要特点是*的输入阻抗,输入阻抗超过100G欧,几乎对被测对象没有影响,而且测量范围宽、。主要用于高电压测量,特别适用于测量内阻很高的静电发生器,电视机高压测量,同时也适用于静电发生器、静电放电枪、静电高压表、非接触式静电电压表的等。
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    HCTZ-2S华测四探针测试仪器是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。
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    复合导电材料高温四探针测试机Huace-600,该系统可以测量硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻 以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜的方块电阻,该设备按照单晶硅物理测试方法标准设计的。
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    自动归零高温直流电阻率测试系统适合范围: ●GB/T 10581-2006 绝缘材料在高温下电阻和电阻率的试验方法 ●DL/T 810-2002 ±500kV直流棒形悬式复合绝缘子技术条件
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    为赋予材料以驻极体特性,需要采用一定的手段将电荷注入到材料内,这一过程称为驻极。目前,MBPP 驻极体非织造布驻极的方法主要有电晕放电法,可分为正电晕放电和负电晕放电。正电晕放电时,在电场力作用下电子和阴离子向曲率半径小的电极移动,正离子向铺有 MBPP 的电极移动; 负电晕放电时则相反。热刺激去极化电流测试仪
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