绝缘电阻劣化离子迁移评估系统/电路板测试配之以高温高湿试验箱联动，可连续监测，高效简便评估因离子迁移现象引起的寿命及绝缘电阻劣化相关问题。适用标准：JPCA-ET04、IPC-TM-6502.6.3F、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A、IPC-TM-650_2.6.3.6。

导通电阻评估系统 可靠性电路测试系统在低温、高温的温度循环环境下，采用4端子测试法对焊点、连接器接点等导体进行多通道微小电阻连续测量，以评估电子装配与材料的正确性和可靠性。操作软件可实时自动测量记录数据，图表化微小电阻变化及试验箱温度变化，可通过LAN进行数据处理

面对电子产品越来越小型轻量及绝缘电阻劣化离子迁移评估系统/PCB测试配之以高温高湿试验箱联动，可连续监测，简便评估因离子迁移现象引起的寿命及绝缘电阻劣化相关问题。