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铁电分析仪如何针对不同材料应变测量?

更新时间:2025-07-16      点击次数:44


铁电分析仪如何针对不同材料应变测量


Huace FE-3000针对不同材料应变测量设计了块体与薄膜应变测试两种测量夹具,以下是两款夹具的介绍:

1. 高分辨率pm级测量平台-振动激光干涉测量D33;

2. 可评估piezoMEMS,也可方便实现块体与薄膜的夹持;

3. 0.01nm分辨率,2MHz带宽;

4. 可实现在RT~250℃的温度下进行测量。

 

激光测振仪+变温块体测试盒

1. 电极大可调行程不小于3mm,分辨率0.01mm

2. 大样品尺寸小于30mm

3. 样品盒大试验电压不低于10kV

4. 大加热温度:RT~250℃

5. 采用进口品牌温度控制器;

6. 具有过温与过流保护功能。


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激光测振仪+变温块体测试盒

激光测振仪+高温块体测试盒

1. 电极大可调行程不小于3mm,分辨率0.01mm

2. 大样品尺寸小于30mm

3. 样品盒大试验电压不低于10kV

4. 大加热温度:RT~800℃

5. 采用进口品牌温度控制器;

6. 具有过温与过流保护功能。


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激光测振仪+高温块体测试盒

 

激光测振仪高低温测试夹具

1. 适用于器件与块体材料应变测量;

2. 大样品尺寸小于40mm

3. 样品盒大试验电压不低于2kV

4. 大加热温度:-196℃ - 250℃

5. 采用进口品牌温度控制器;

6. 具有过温与过流保护功能。


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激光测振仪高低温测试夹具

 

薄膜悬臂梁测试夹具

激光测振仪与薄膜压电测试(E31)相结合,可测量沉积在悬臂上的压电薄膜的压电系数(E31D31E33)。施加在压电薄膜上的电压使基板向各个方向弯曲。位移由激光测试振仪进时高速测量。使用薄膜压电测试套件进行的测量包括(但不限):E31D31D33E33与厚度位移与电压的关系。


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薄膜悬臂梁测试夹具

 


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