• 2026

  8-14
  HC-PAX 多通道电流矩阵模块｜多路微弱电流自动化测试平台解决方案

  随着半导体器件、微型传感器、微电子元器件可靠性测试需求持续增长，批量样品同步开展漏电、电流特性测试的场景越来越普遍。传统单通道测试设备需要人工反复接线、轮换试样，测试效率低下，难以满足批量微弱电流并行采集需求。针对行业痛点，华测仪器推出HC...

• 2026

  8-13
  模拟湿热偏压工况！绝缘电阻劣化（离子迁移）综合测试解决方案

  随着电子器件持续向小型化、高密度集成方向发展，高温高湿叠加电场作用引发的离子迁移、绝缘电阻衰减等问题愈发突出，对产品长期服役稳定性构成挑战。针对行业测试痛点，华测仪器推出绝缘电阻劣化（离子迁移）测试系统，可开展温湿度偏压、电化学迁移、表面绝...

• 2026

  8-13
  HCRD-300L 电弱点试验仪：卷状薄膜材料连续检测方案

  高分子绝缘薄膜生产过程中形成的杂质、局部薄化等微观问题，是影响高压工况下局部电场畸变、介质击穿与终端产品失效的关键诱因。华测仪器HCRD-300L系列电弱点试验仪面向电容薄膜、锂电池隔膜等卷材质检需求，实现整卷卷材不间断连续检测，试样无需提...

• 2026

  8-12
  HCMP 多通道介电电阻测试模块：多通道并行测试解决方案

  华测仪器HCMP多通道介电电阻测试模块，标配10路单独测试通道，同时支持通道数量定制扩容，可同步开展多组试样平行对照试验，适合长期电热老化试验配套在线监测，完成多试样同步比对测试。模块搭载高速光耦继电器，通道切换时间低至1ms；通道之间绝缘...

• 2026

  8-11
  固体绝缘材料耐漏电性能检测：HCLD-2 试验仪在 CTI 与 PTI 测试中的应用

  华测仪器HCLD-2低压漏电起痕试验仪是为固体绝缘材料耐漏电起痕性能检测而设计，可准确测定材料相比电痕化指数（CTI）与耐电痕化指数（PTI），普遍应用电工塑胶、绝缘复合材料、电器零部件等材料性能评估。设备搭载滤波、隔离、稳压三重变压器架构...

• 2026

  8-10
  矩阵式50点电极法测试系统｜绝缘薄膜耐压击穿检测方案

  华测仪器50点电极法测试系统采用矩阵式50组单独测试电极阵列设计，电极排布科学合理，保障测试区域电场分布均匀一致，设备支持一键自动化流程执行，可批量同步完成50个点位的耐压、击穿性能测试，同时兼容单点单独测试模式，灵活满足大批量筛查与单点准...