导通绝缘测不准、抗干扰差？四端子多通道测试系统解决测试难题

还在被导通 / 绝缘电阻测试难题困扰？阻值数据漂移不准、单机单测效率低下、现场电磁与温场干扰偏大、多批次样品检测耗时长？华测仪器 Huace DT-L3 导通绝缘电阻测试系统提供测试新方案。

设备标配四端子测试架构，减少测试引线损耗、端子接触电阻带来的测量偏差；导通测微欧级高准度，分辨率可达100μΩ，绝缘端可准确捕获 pA~fA 量级微弱漏电流，直流测试架构抗工频、空间杂波干扰能力出众，恶劣工况数据依旧稳定可靠。硬件搭载标准128通道并行测试，通道数量按需灵活扩容，大批量试样同步导通 + 绝缘一站式并行检测，减少测试工时；配套自研 Huacepro 智能测控软件，全流程自定义测试方案、参数阈值、判定标准，测试数据自动归档存储，意外断电数据完整留存不丢失。 可搭配高低温试验箱，准确控温模拟，从低温至高温全工况服役环境，减少温度变化对阻值的影响，实现温变环境下导通、绝缘特性连续溯源测试。

普遍适配印刷电路板通孔导通评估、BGA焊料连接性评估、开关、继电器等各种接触电阻评估、芯片电容器接合可靠性评估等多领域品质检测需求。