离子迁移失效难以管控？多通道绝缘电阻劣化评估系统提供解决方案

离子迁移失效具备强隐蔽性，前期无明显外观变化，仅表现为绝缘电阻缓慢劣化，故障爆发无规律，电子组件长期可靠性难以量化管控。华测仪器绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统采用集成架构：恒温恒湿环境仓 + 多通道高精度电阻采集主机；工况准确复现：模拟 85℃/85% RH 湿热叠加直流偏压等复杂服役环境；全过程动态监测：长期持续加压，实时存储绝缘电阻变化数据，追溯失效演变过程。

高性能测试配置

通道能力：标准 128 单独通道，可拓展 960 通道并行测试

测量量程：10⁵~10¹⁵Ω 全区间覆盖，高低绝缘均可准确检测

电压定制：100V–1500V 直流测试电压，适配多行业测试规范

耐久测试：支持1~1000小时不间断连续老化

高速采集：2分钟完成128 通道完整扫描，批量测试效率得到优化

多方面防护保障

搭载过压、过流、过温三重硬件保护，高压测试全程逐通道实时监控；发生短路、过温、漏电异常时系统自动切断高压，留存故障溯源数据，保障长时间无人值守老化测试过程稳定。

可完成绝缘材料、PCB 电路板、功率器件、封装组件离子迁移可靠性验证，缩短研发迭代周期，减少隐性失效，稳定产品出厂可靠性。