表面电位衰减测试技术：XLPE 电缆绝缘电荷陷阱特性测试方案

本系统是为定量评估绝缘介质材料表面电荷动态衰减行为、解析电荷陷阱能级分布规律而设计，是高分子绝缘材料等研究的测试装备。

设备搭载±30 kV 宽范围直流高压输出模块，电压稳定度≤0.1%/h，保障电荷极化过程持续稳定，避免电压波动引入测试误差。系统标配针电极、栅电极、板式电极多种规格电极组件，电极间隙0~100 mm 连续可调，灵活适配薄膜、片材、成型试样等不同形态样品，覆盖多样化测试工况。集成温控单元，测试温度区间室温~160℃连续可调，控温精度 ±0.2℃；配套湿度可控密闭电极箱，可模拟电线电缆高温载流、湿热等实际测试环境，实现接近工况条件下的电荷特性测试。表面电位采集单元支持±10 kV 电位测量量程，测量精度可达1 V，具备 5~20 ms 高速信号响应能力，能够捕捉电荷极化后电位短期骤降、中长期缓慢衰减阶段演化曲线，获取连续、完整的表面电荷衰减原始数据。

普遍应用于 XLPE 交联聚乙烯绝缘材料、电力电缆绝缘料、复合介质、功能绝缘高分子等领域，支撑电缆新材料研发、机理分析、方案验证、绝缘性能评价等科研与工程检测工作。