HuaceDF500：高电场下介电常数、损耗、漏电流测试解决方案

Huace-DF500 高电场介电、损耗、漏电流测试系统由华测仪器开发，采用 AC DFR 介电频率响应测试原理与数字锁相放大采集技术，可同步完成介电常数、介质损耗、漏电流三项关键电学参数的同步采集与记录，减少传统多设备轮换测试带来的接线误差、时序错位问题，优化测试重复性与工作效率。

系统测试频率范围 1mHz~10kHz；输出电压 0~500V 连续可调，升压速率 150V/μs；配置高压功率放大单元，支持交流、直流高压激励模式，支持用户自定义输出波形，模拟材料实际工况下的高电场激励条件，实现高电场下介质极化特性与漏电行为的测试表征。

系统可配套程控环境试验箱，采用液氮制冷方式，实现-80℃~230℃宽温度区间的连续控温，可开展恒温、变温、温度循环条件下的介电性能测试，满足绝缘材料、电介质陶瓷、聚合物复合材料、功能薄膜等多种试样的迭代、配方开发及可靠性评估的测试需求。