• 2026

  8-18
  场消式测量技术：HCEV-30kV 非接触高压静电电压表测试原理与应用

  华测仪器HCEV-30kV非接触式高压静电电压表设备依托自研场消技术开展测量，采用非接触无损检测方式，探头无需接触试样，不会扰动样品原有电荷分布，避免划伤、污染样品。区别于传统静电测量设备，测试时探头小幅距离波动不会造成数据漂移，无需频繁校...

• 2026

  8-17
  高电位绝缘材料静电检测方案—HCEV-20kV 非接触式静电电压表

  华测仪器HCEV-20kV非接触式高压静电电压表，依托自研场消测量技术实现无损非接触电压检测，测量过程不扰动试样原有电场、不损伤被测样品。仪器测量量程覆盖0至±20kV直流电或峰值交流电，适配多种高电位绝缘材料测试场景。区别于...

• 2026

  8-14
  场消式无损测量，华测仪器非接触式静电电压表助力多行业静电品质管控

  近日，华测仪器自主研发的HCEV系列非接触式静电电压表凭借无损、高准度、高稳定性的技术优势，普遍应用多行业场景，为工业静电防控、产品品质管控、新材料科研测试提供解决方案，提供可靠测试支撑。在精细制造与新材料生产过程中，静电是影响产品良率、暗...

• 2026

  8-14
  HC-PAX 多通道电流矩阵模块｜多路微弱电流自动化测试平台解决方案

  随着半导体器件、微型传感器、微电子元器件可靠性测试需求持续增长，批量样品同步开展漏电、电流特性测试的场景越来越普遍。传统单通道测试设备需要人工反复接线、轮换试样，测试效率低下，难以满足批量微弱电流并行采集需求。针对行业痛点，华测仪器推出HC...

• 2026

  8-13
  模拟湿热偏压工况！绝缘电阻劣化（离子迁移）综合测试解决方案

  随着电子器件持续向小型化、高密度集成方向发展，高温高湿叠加电场作用引发的离子迁移、绝缘电阻衰减等问题愈发突出，对产品长期服役稳定性构成挑战。针对行业测试痛点，华测仪器推出绝缘电阻劣化（离子迁移）测试系统，可开展温湿度偏压、电化学迁移、表面绝...

• 2026

  8-13
  HCRD-300L 电弱点试验仪：卷状薄膜材料连续检测方案

  高分子绝缘薄膜生产过程中形成的杂质、局部薄化等微观问题，是影响高压工况下局部电场畸变、介质击穿与终端产品失效的关键诱因。华测仪器HCRD-300L系列电弱点试验仪面向电容薄膜、锂电池隔膜等卷材质检需求，实现整卷卷材不间断连续检测，试样无需提...