改性塑料试验设备_第(10)页-北京华测试验仪器有限公司

当前位置：首页 > 产品中心 > 改性塑料试验设备 >

产品分类

Product Category

改性塑料试验设备

电压击穿试验仪耐电弧测试仪绝缘电阻试验仪电弱点试验仪电介质充放电测试系统高压、低压漏电起痕试验仪 50点耐压测试仪

查看全部

计算机控制塑料电气强度试验仪HCDJC-20KV

更新时间：2025-05-29

型号：

浏览量：1893

华测计算机控制塑料电气强度试验仪HCDJC-20KV满足GB1408.1-2006《绝缘材料电气强度试验方法　第1部分；工频下试验》、GB/T1695-2005《硫化橡胶工频击穿电压强度和耐电压的测定方法》、GB/T 3333-1999《电缆纸工频击穿电压试验方法》、GB/T 12656-1990《电容器纸工频击穿电压测定法》、GB/T1981及ASTM D149标准要求设计制造。
了解详情
击穿强度测试仪-100KV

更新时间：2025-05-29

型号：

浏览量：2087

击穿强度测试仪-100KV满足GB1408.1-2006《绝缘材料电气强度试验方法　第1部分；工频下试验》、GB/T1695-2005《硫化橡胶工频击穿电压强度和耐电压的测定方法》、GB/T 3333-1999《电缆纸工频击穿电压试验方法》、GB/T 12656-1990《电容器纸工频击穿电压测定法》、GB/T1981及ASTM D149标准要求设计制造。
了解详情
固体绝缘材料工频电压击穿强度试验仪

更新时间：2025-04-07

型号：

浏览量：1720

华测固体绝缘材料工频电压击穿强度试验仪HCDJC-100KV满足GB1408.1-2006《绝缘材料电气强度试验方法　第1部分；工频下试验》、GB/T1695-2005《硫化橡胶工频击穿电压强度和耐电压的测定方法》、GB/T 3333-1999《电缆纸工频击穿电压试验方法》、GB/T 12656-1990《电容器纸工频击穿电压测定法》、GB/T1981及ASTM D149标准要求设计制造。
了解详情
陶瓷耐电压击穿强度试验仪HCDJC-100KV

更新时间：2025-04-07

型号：

浏览量：1633

华测计算机控制陶瓷耐电压击穿强度试验仪HCDJC-100KV满足GB1408.1-2006《绝缘材料电气强度试验方法　第1部分；工频下试验》、GB/T1695-2005《硫化橡胶工频击穿电压强度和耐电压的测定方法》、GB/T 3333-1999《电缆纸工频击穿电压试验方法》、GB/T 12656-1990《电容器纸工频击穿电压测定法》、GB/T1981及ASTM D149标准要求设计制造。
了解详情
树脂、绝缘漆电压击穿试验仪HCDJC-100KV

更新时间：2025-04-07

型号：

浏览量：1447

华测树脂、绝缘漆电压击穿试验仪HCDJC-100KV满足GB1408.1-2006《绝缘材料电气强度试验方法　第1部分；工频下试验》、GB/T1695-2005《硫化橡胶工频击穿电压强度和耐电压的测定方法》、GB/T 3333-1999《电缆纸工频击穿电压试验方法》、GB/T 12656-1990《电容器纸工频击穿电压测定法》、GB/T1981及ASTM D149标准要求设计制造。
了解详情
绝缘材料击穿电压试验仪 HCDJC-100KV

更新时间：2025-04-07

型号：

浏览量：1428

绝缘材料击穿电压试验仪 HCDJC-100KV满足GB1408.1-2006《绝缘材料电气强度试验方法　第1部分；工频下试验》、GB/T1695-2005《硫化橡胶工频击穿电压强度和耐电压的测定方法》、GB/T 3333-1999《电缆纸工频击穿电压试验方法》、GB/T 12656-1990《电容器纸工频击穿电压测定法》、GB/T1981及ASTM D149标准要求设计制造。
了解详情
陶瓷玻璃耐电压击穿试验仪HCDJC-100KV

更新时间：2025-04-07

型号：

浏览量：1405

华测计算机控制陶瓷玻璃耐电压击穿试验仪HCDJC-100KV满足GB1408.1-2006《绝缘材料电气强度试验方法　第1部分；工频下试验》、GB/T1695-2005《硫化橡胶工频击穿电压强度和耐电压的测定方法》、GB/T 3333-1999《电缆纸工频击穿电压试验方法》、GB/T 12656-1990《电容器纸工频击穿电压测定法》、GB/T1981及ASTM D149标准要求设计制造。
了解详情
HCRD-300华测薄膜击穿电弱点测试仪器--锂电池隔膜

更新时间：2024-12-16

型号：HCRD-300

浏览量：2500

华测薄膜击穿电弱点测试仪器--锂电池隔膜，该仪器是根据薄膜的使用宽度进行电弱点的测试，测试宽度可根据用户的要求而设定，无须将膜分切成小卷，免除了许多外来因素对测试结果的影响。测试数据能真实地反映薄膜的质量水平。测试过程采用电子技术全自动控制，遇到电弱点时电压切断动作迅速。击穿电流在0～40mA连续可调，复现性好。
了解详情

共 95 条记录，当前 10 / 12 页首页上一页下一页末页跳转到第页