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| 品牌 | 华测仪器 | 产地类别 | 国产 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 能源,航空航天,汽车及零部件,电气,综合 |
华测仪器HCRD-300L薄膜电弱点测试系统
价格仅供参考，如需获取更详尽的产品技术规格书、定制方案或应用案例，欢迎致电我司技术工程师
HCRD-300L薄膜电弱点测试系统由华测仪器生产，该系列产品的主要特点是能根据薄膜的使用宽度进行电弱点的测试，测试宽度可根据用户的要求而设定，无须将膜分切成小卷，免除了许多外来因素对测试结果的影响。测试数据能真实地反映薄膜的质量水平。具有可靠性、耐用性和稳定性，测试过程采用电子技术全自动控制，遇到电弱点时电压切断动作迅速，击穿电流在0～40mA连续可调，复现性好。
产品参数
可放置卷芯长度：30~1800mm
试验电压精度：≤2%
测试电压：DC：50V~6kV AC：50V~5kV
电压精度：2%
厚度范围：450mm
产品移动速度：3-10m/min 连续可调
软件功能
操作系统：支持XP，win7,win8系统，操作人性化；
实时监测：在实验过程中可以动态显示电弱点数量、膜移动距离等；
数据导出：试验结果方便导出。
实验报告：自定义报告名称，并对实验报告进行打印；
试验方式：直流试验和交流试验、进行选择；
参数设置：可以根据不同的试验方式及试验方法灵活设置所需的不同参数值；
校准功能：可针对设备进行校准设置；
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