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HCLD-2 低压漏电起痕试验仪:绝缘材料 CTI/PTI 准确检测方案
发布时间:2026-06-15
华测仪器HCLD-2低压漏电起痕试验仪用于检测固体绝缘材料表面耐漏电蚀损性能,准确测定相比电痕化指数(CTI)、耐电痕化指数(PTI),为材料绝缘可靠性验证、产品安规认证提供准确试验依据。设备配备低通滤波电流监测单元,滤除测试杂波干扰,稳定采集漏电电流信号,保障检测数据重复性;搭...
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2021
3-1
线性光学-透光性的应用
线性光学不仅是衡量线性光学材料质量的重要指标,而且还是非线性光学材料的基本和质量指标。因此,许多材料的使用功能与线性光学息息相关。光学系统成像的清晰度与材料的透明度成正比,因此,在可见光区,特别是近紫外光区,有时要求扩展到紫外光区和红外光区...
2021
2-26
介电的测量
介电是介电材料重要的,一般指介电常数ε‘和损耗角正切tanδ。对于不同的材料,在不同的条件下,其测量方法各不相同。GB3389.7-86规定了压电陶瓷材料在强交电场作用下介电的测量方法。标准采用1kHz高压西林电桥来测量,其测量原理图如图4...
2021
2-26
漆包线的介质损耗机理
1.漆包线漆膜介质分子结构特性漆包线是在铜、铝导体上涂覆绝缘漆后固化成膜后的典型绝缘电线结构,其核心除了导体以外,主要是绝缘漆固化后所表征的。这其中有电,机械,化学等。这些都是可以从传统的“老八样”测试仪器进行检测和评估。漆包线漆作为高分子...
2021
2-25
影响材料介电损耗的因素
影响材料介质损耗的因素可以分为两类。一类是材料结构本身的影响,如不同材料的漏导电流不同,由此引起的损耗也各不相同,不同材料的计划机制不同,也使极化损耗各不相同。我们这里主要讨论第二类情况,也就是外界环境或试验条件对材料介电损耗的影响。对介质...
2021
2-25
介质的损耗形式
今天来介绍一下什么是极化损耗和电离损耗?当介质产生极化时,有几种极化形式可以引起介质损耗,例如松弛极化所造成的介质损耗就比较大,这种损耗发生在偶极子式结构电介质和在离子晶格不紧密的离子结构电介质中,它是由于粒子(偶极子或离子)在电场力的影响...
2021
2-24
介质的损耗形式—电导(或漏导)损耗
什么是介质的损耗形式?由于介质损耗的原因是多方面的,所以介质损耗的形式也是多种多样的。当然各种不同形式的损耗是综合起作用的。为了弄清楚产生损耗的原因和影响因素,我们首先把介质中的损耗加以简化,对各种损耗形式分别加以研究,然后综合考虑。下面主...
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