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材料长期老化难题:Huace-LHD-4 长期电热老化试验平台技术解析
材料长期老化难题:Huace-LHD-4 长期电热老化试验平台技术解析 发布时间:2026-05-11
材料长期老化风险难以预判、老化性能数据难获取?华测仪器Huace-LHD-4长期电热老化试验平台,是为电子材料、绝缘介质、压电陶瓷等试样长期电热老化测试而设计,解决材料长期老化工况模拟难、测试一致性差、试验易中断等行业痛点。设备标配5单独测试通道,支持按需定制通道数量,适配多批次...
  • 2020

    9-1
    热敏效应及应用(一)
    半导体的导电,主要是由电子和空穴造成的。温度增加,使电子动能增大,造成晶体中自由电子和空穴数目增加,因而使电导率升高。通常情况下电导率与温度的关系为电阻率与温度的关系为式中,B为与材料有关的常数,表示材料的电导活化能。某些材料的B值很大,它...
  • 2020

    9-1
    半导体导电性的敏感效应
    半导体的能带结构如图4.2-23所示,下面是已被价电子占满的允带,中间为禁带,上面是空带。因此,在外电场作用下不能导电,但是这是零度时的情况。当外界条件发生变化时,例如温度升高和有光照射时,满带中有少量电子有可能被激发到上面的空带中去,在外...
  • 2020

    9-1
    抗电强度的测量与应用
    抗电强度是绝缘材料的一个重要指标,因其数值受多种因素影响,为便于比较,必须在特定的条件下进行。GB/T1408.1-1999规定了固体电工材料工频击穿电压、击穿场强和耐电压的实验方法。对试样的尺寸、电极形状、加压方式等都作了规定,其中击穿电...
  • 2020

    8-31
    铁电材料综合测试系统的介绍及优势
    产品介绍:铁电材料综合测试系统既可适用于压电陶瓷材料居里温度、纵向压电应变常数(静态)、强场介电、热释电系数、因数及机电耦合系数等;如增加高压放大器模块,也可实现铁电材料的电学测试;配合高低温测试环境同时可以测量不同环境温度下的材料参数。该...
  • 2020

    8-31
    化学击穿的两种主要机理
    长期运行在高温、潮湿、高电压或腐蚀性气体环境下的绝缘材料往往会发生化学击穿。化学击穿和材料内部的电解、腐蚀、氧化、还原、气孔中气体电离等一系列不可逆变化有很大的关系,并且需要相当长时间,材料被“老化”,逐渐丧失绝缘,后导致被击穿而破坏。化学...
  • 2020

    8-31
    影响抗电强度的因素
    材料的抗电强度主要用材料的耐电强度来表示,其数值等于相应的击穿场强E穿。它除取决于材料的组成与结构外,主要受外界环境对E穿的影响。首先是温度的影响,温度对电击穿影响不大,因为在电击穿过程中,电子的运动速度、粒子的电离能力等均与温度无关,因此...
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