您好!欢迎访问北京华测试验仪器有限公司网站!
全国服务咨询热线:

13911821020

  • HC-Q37a介质损耗因数测试仪
    HC-Q37a介质损耗因数测试仪

    更新时间:2026-09-29

    型号:HC-Q37a

    浏览量:143

    华测仪器HC-Q37a介质损耗因数测试仪以锁相放大器原理运作,能够分析容性和感性负载,特别是旁路电抗器。具有精度和稳定性。
    了解详情
  • Huace-300线缆材料表面与体积电阻率测试仪
    Huace-300线缆材料表面与体积电阻率测试仪

    更新时间:2026-09-24

    型号:Huace-300

    浏览量:158

    华测仪器Huace-300线缆材料表面与体积电阻率测试仪采用低温漂系数极低的电阻,既可测量高电阻,又可测微电流。
    了解详情
  • Huace-EA25真空高压电热老化试验系统
    Huace-EA25真空高压电热老化试验系统

    更新时间:2026-09-23

    型号:Huace-EA25

    浏览量:172

    华测仪器Huace-EA25真空高压电热老化试验系统是一款为绝缘材料电热老化及击穿性能测试设计的综合性实验设备。
    了解详情
  • Huace-TSDC高压TSDC 热激励去极化电流分析仪
    Huace-TSDC高压TSDC 热激励去极化电流分析仪

    更新时间:2026-09-22

    型号:Huace-TSDC

    浏览量:153

    华测仪器高压TSDC 热激励去极化电流分析仪适用于电子元器件与封装技术:元器件可靠性测试、封装材料选择、封装工艺优化。
    了解详情
  • Huace-TSDC高压热激励去极化电流测试仪
    Huace-TSDC高压热激励去极化电流测试仪

    更新时间:2026-09-22

    型号:Huace-TSDC

    浏览量:137

    华测仪器Huace-TSDC高压热激励去极化电流测试仪适用于材料研发与性能评估:介电材料研究、绝缘材料评估、半导体材料分析。
    了解详情
  • HCDJC-150kV工频‑直流击穿电压测试系统
    HCDJC-150kV工频‑直流击穿电压测试系统

    更新时间:2026-09-21

    型号:HCDJC-150kV

    浏览量:187

    华测仪器HCDJC-150kV工频‑直流击穿电压测试系统仪器采用12寸触摸屏操作,实现对试验过程中多种数据的快速、准确采集、处理、存储、显示与打印。
    了解详情
  • Huace静电表面电位衰减测试系统
    Huace静电表面电位衰减测试系统

    更新时间:2026-09-18

    型号:Huace

    浏览量:212

    华测仪器静电表面电位衰减测试系统是一款面向材料电学特性研究的多功能分析设备,是为评估介质材料表面电荷动态衰减行为及陷阱能级分布而设计。
    了解详情
  • HCAM-25kV线缆材料电学测试高压激励源
    HCAM-25kV线缆材料电学测试高压激励源

    更新时间:2026-09-16

    型号:HCAM-25kV

    浏览量:177

    华测仪器HCAM-25kV线缆材料电学测试高压激励源是一款直流稳定高压功率放大器,采用全固态设计,具有高压摆率、宽带宽和低噪声操作特性。
    了解详情
共 37 条记录,当前 1 / 5 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
北京华测试验仪器有限公司
地址:北京海淀区
邮箱:LH13391680256@163.com
传真:
关注我们
欢迎您关注我们的微信公众号了解更多信息:
欢迎您关注我们的微信公众号
了解更多信息

京公网安备11011302007496号