详细介绍
| 产地类别 | 国产 | 应用领域 | 化工,电子/电池,航空航天,电气,综合 |
|---|
Huace-4S 小型探针台是北京华测试验仪器有限公司专为材料电学表征与器件测试研发的一款高性价比、轻量化手动探针台系统。该设备作为一种精密辅助执行机构,主要用于协助测试人员实现对微小器件或材料样品的精确电学连接,从而完成各类电性能参数的测量。
基本工作原理:测试人员将待测器件置于探针台载物台(Chuck)上,在显微镜观测下通过X-Y方向移动样品台,精确定位待测区域。随后,通过旋转探针座上的X-Y-Z三轴调节旋钮,控制前部探针(直流或射频探针)精确扎触至被测电极点,使器件信号线通过探针与外部测试机(如源表、LCR表、半导体参数分析仪等)形成导通回路,进而获取所需的电性能参数。
本产品以其结构紧凑、操作便捷、经济实用的特点,广泛应用于科研实验、高校教学及小批量生产测试等领域。

多场景测试兼容:满足I-V/C-V特性测试、PIV测试、光电响应测试等多种应用需求;
大尺寸样品支持:可用于6英寸及以下规格样品的测试;
高精度传动:采用同轴丝杠传动结构,确保探针移动平稳线性;
环境适应性:结构轻巧,可放置于手套箱内使用,满足特殊气氛环境测试需求;
操作便捷性:人体工学设计,旋钮操作顺手,学习成本低;
经济实用:在保证基础性能的前提下,提供竞争力的价格。
半导体器件测试:二极管、晶体管、MOSFET等基础器件电学表征
材料科学研究:二维材料、钙钛矿、有机半导体等新材料电性能研究
光电测试:光电探测器、太阳能电池的光电响应特性测量
失效分析:电子元器件故障定位与原因分析
教学实验:高校微电子、物理、材料专业实验教学
| 参数项目 | 技术规格 |
|---|---|
| 产品型号 | Huace-4S |
| 适用样品尺寸 | 4英寸 / 6英寸 |
| 样品台水平旋转 | 360° 连续旋转,带角度锁死装置 微调范围 ±15°,调节精度 0.1° |
| X-Y移动行程 | 4英寸 × 4英寸(约100mm × 100mm) |
| X-Y移动精度 | 10μm |
| 样品台Z轴调节 | 升降范围 10mm |
| 样品固定方式 | 真空吸附(中心吸附孔 + 多圈吸附环) |
| 针座平台 | U型设计,可同时放置最多6个探针座 |
| 背电极测试 | 样品台电学独立悬空 配备4mm插孔用于背电极信号引出 |
| 外形尺寸(L×W×H) | 400mm × 400mm × 500mm |
| 设备重量 | 约 20kg |
| 参数项目 | 技术规格 |
|---|---|
| 显微镜类型 | 单筒显微镜 / 体式显微镜(可选配) |
| 放大倍率 | 16× - 200×(连续变倍) |
| 显微镜移动行程 | 水平方向:绕立柱360°旋转 垂直方向:Z轴升降50.8mm |
| 光源 | 外置LED环形光源,无极亮度调节 |
| CCD相机(选配) | 200万像素 / 500万像素 / 1200万像素可选 |
| 参数项目 | 技术规格 |
|---|---|
| X-Y-Z移动行程 | 12mm × 12mm × 12mm |
| 移动精度(可选) | 10μm / 2μm / 0.7μm / 0.5μm |
| 吸附方式 | 磁力吸附 / 真空吸附 |
| 漏电精度(可选) | 10pA / 100fA / 10fA |
| 探针固定方式 | 弹簧固定 / 管状固定 |
| 接头类型 | BNC / 三同轴 / 香蕉头 / 鳄鱼夹 / 接线端子 |
| 线缆类型 | 同轴线 / 三轴线 |
| 针尖直径(可选) | 0.2μm / 1μm / 2μm / 5μm / 10μm / 20μm |
| 针尖材质 | 钨钢 / 铍铜 |
Huace-4S 小型探针台主要由以下核心部件组成:
底座与支撑结构:提供整体稳定性,承载所有部件
样品台(Chuck):用于放置和固定被测样品,具备X-Y-Z三向调节及旋转功能
探针座平台:U型布局,用于安装多个探针座
探针座(定位器):独立的三轴微动平台,用于精确控制探针位置
显微镜系统:用于观察样品表面和探针位置
照明系统:提供充足、均匀的样品照明
真空吸附系统:通过真空负压固定样品
屏蔽与接地:降低外界电磁干扰
4.2.1 机械定位原理
粗定位:通过移动样品台的X-Y旋钮,将待测区域移动至显微镜视场中心
精定位:通过调节探针座的X-Y-Z三轴微分头,控制探针针尖以微米级精度移动至目标电极点
接触控制:通过显微镜观察针尖与电极的接触形变,判断接触状态
4.2.2 电学测试原理
信号路径:被测器件 → 探针针尖 → 探针臂 → 同轴/三轴线缆 → 接头 → 外部测试仪器
背电极连接:通过样品台的4mm插孔引出背部电极信号,实现垂直结构器件的测试
漏电控制:高精度探针座采用三同轴设计,配合低噪声线缆,实现fA级微弱电流测量
4.2.3 光学观察原理
显微镜将样品表面放大16-200倍,通过目镜观察或CCD相机采集图像
环形光源提供无影照明,避免阴影干扰探针操作
环境检查:将探针台置于平稳的工作台面,确保无强震动、无强电磁干扰
样品准备:清洁样品表面,确保电极区域洁净
探针选择:根据测试需求选择合适针尖直径和材质的探针
仪器连接:将探针通过线缆连接至外部测试仪器(源表、LCR表等)
| 步骤 | 操作内容 | 注意事项 |
|---|---|---|
| Step 1 | 开启真空泵,将样品放置于样品台中心位置,通过真空吸附固定 | 确认样品平整,吸附牢固 |
| Step 2 | 调节显微镜位置和焦距,直至清晰观察到样品表面 | 先粗调再微调,避免碰撞样品 |
| Step 3 | 移动样品台X-Y,将待测电极区域移至视场中心 | 记录初始位置便于重复定位 |
| Step 4 | 安装探针座至U型平台,调整探针座大致位置 | 确保探针位于样品上方安全距离 |
| Step 5 | 缓慢调节探针座Z轴,使探针针尖下降至接近样品表面 | 在焦点平面观察针尖与样品距离 |
| Step 6 | 调节探针座X-Y,使针尖对准目标电极中心 | 利用显微镜十字准星辅助对准 |
| Step 7 | 微调Z轴使探针轻轻接触电极表面,观察到针尖轻微弯曲或电极表面反射变化 | 避免过度下压损伤针尖或样品 |
| Step 8 | 重复Step 5-7,完成其他探针的扎针操作 | 注意多根探针的操作顺序 |
| Step 9 | 启动外部测试仪器,执行预设测试项目 | 记录测试数据 |
| Step 10 | 测试完成后,先抬起所有探针,再取出样品 | 顺序不可颠倒 |
先低倍后高倍:低倍镜下快速定位,高倍镜下精确对针
角度观察:适当倾斜显微镜观察角度,便于判断针尖与样品的垂直距离
轻触即止:探针接触电极时以刚产生电气接触为宜,避免过度扎入损伤电极
| 维护项目 | 频率 | 操作方法 | 注意事项 |
|---|---|---|---|
| 样品台清洁 | 每次使用后 | 无尘布蘸取无水乙醇轻轻擦拭 | 避免划伤台面,防止液体渗入运动机构 |
| 探针检查 | 每次使用前后 | 显微镜下观察针尖状态,清除附着物 | 发现针尖弯曲、氧化或磨损应及时处理 |
| 运动部件检查 | 每周 | 检查各调节旋钮是否顺畅,有无异响 | 发现卡滞或松动及时调整 |
| 真空吸附检查 | 每日 | 测试吸附孔是否通畅,吸附力是否达标 | 堵塞时用细针轻轻疏通 |
| 维护项目 | 频率 | 操作方法 | 标准要求 |
|---|---|---|---|
| 探针更换/研磨 | 按需/每月 | 更换新探针或使用研磨片修复针尖 | 针尖直径符合测试要求,表面光洁 |
| 导轨润滑 | 每季度 | 涂抹适量专用润滑脂于移动导轨 | 使用不含酸性成分的润滑脂 |
| 光学系统清洁 | 每月 | 用专业镜头纸清洁物镜和目镜 | 避免使用有机溶剂擦拭镜头 |
| 电气连接检查 | 每季度 | 检查线缆、接头有无松动、破损 | 接触不良时重新插拔或更换线缆 |
| 接地电阻测试 | 每半年 | 测量设备接地电阻 | 接地电阻 < 1Ω |
| 整机校准 | 每年 | 使用标准校准片校验定位精度 | 定位偏差超过20μm需调整 |
| 故障现象 | 可能原因 | 排查方法 | 解决方案 |
|---|---|---|---|
| 显微镜视野模糊 | 物镜污染/焦距失调 | 检查物镜表面清洁度 | 清洁物镜,重新调焦 |
| 探针无法接触电极 | Z轴行程不足/针尖过短 | 检查探针安装位置 | 调整探针座Z轴初始高度,更换探针 |
| 真空吸附力不足 | 吸附孔堵塞/管路漏气 | 检查吸附孔和气管连接 | 疏通吸附孔,检查密封圈 |
| 测试信号不稳定 | 探针接触不良/屏蔽接地不良 | 检查针尖与电极接触状态 | 重新扎针,检查接地线 |
| X-Y移动卡滞 | 导轨污染/润滑不足 | 检查导轨清洁度 | 清洁导轨,添加润滑脂 |
| 图像有暗影 | 光源位置不当/亮度不足 | 调整环形光源角度 | 调节光源亮度和角度 |
为满足不同用户的多样化测试需求,Huace-4S 探针台提供丰富的可选附件:
| 附件类别 | 可选型号/规格 | 功能说明 |
|---|---|---|
| 加热台 | 室温 - 300°C | 实现变温条件下的电学测试 |
| 显示器 | 19英寸/22英寸高清监视器 | 配合CCD相机实现大屏幕观察 |
| 转接头 | BNC转香蕉头、SMA转BNC等 | 适配不同接口的测试仪器 |
| 射频测试配件 | 射频探针、SMA线缆、校准件 | 支持高频器件测试(可达40GHz) |
| 屏蔽箱 | 全封闭电磁屏蔽箱 | 降低外界电磁干扰,提高测试精度 |
| 光学平台 | 被动/主动减震光学平台 | 消除外界震动干扰 |
| 镀金卡盘 | 4英寸/6英寸镀金卡盘 | 提高导电性和抗氧化能力 |
| 光电测试配件 | 光纤接口、激光器支架 | 支持光电探测器、太阳能电池测试 |
| 探针座扩展 | 高精度探针座(0.5μm) | 提高对针精度,满足更小电极测试需求 |
| 产品配置 | 产品编号 | 描述 |
|---|---|---|
| 基础配置 | Huace-4S-Basic | 4英寸样品台,U型平台,不含显微镜和探针座 |
| 标准配置 | Huace-4S-Standard | 4英寸样品台,单筒显微镜,4个探针座(10μm精度) |
| 高配配置 | Huace-4S-Advanced | 6英寸样品台,体式显微镜,4个探针座(2μm精度),CCD相机 |
| 定制配置 | Huace-4S-Custom | 根据客户具体需求定制 |
订购说明:
标准交货期:收到订单后15个工作日内
包装运输:专用木箱包装,物流送货上门
付款方式:电汇,预付50%,发货前付清尾款
北京华测试验仪器有限公司秉承“服务至上”的原则,为客户提供全面的售后保障:
| 服务项目 | 服务内容 |
|---|---|
| 安装培训 | 提供远程指导或上门安装调试服务,培训至操作人员熟练掌握 |
| 质保期限 | 整机12个月免费保修(探针等易耗品除外) |
| 响应时间 | 24小时技术热线支持,48小时内给出解决方案 |
| 软件支持 | 提供技术咨询 |
| 备件供应 | 长期供应原厂备件,保证5年以上供应周期 |
| 校准服务 | 提供定期有偿校准服务,确保设备精度 |
北京华测试验仪器有限公司专注于材料电学测试领域,主要产品包括:
| 产品系列 | 主要应用 |
|---|---|
| 功能材料电学综合测试系统 | 介电、压电、铁电材料综合表征 |
| 绝缘诊断测试系统 | 电力设备绝缘状态评估 |
| 高低温介电温谱测试仪 | 变温介电性能测试 |
| 极化装置与电源 | 压电材料极化处理 |
| 高压放大器 | 高电压信号放大驱动 |
| PVDV薄膜极化 | 聚合物薄膜极化处理 |
| 高低温冷热台 | 显微观察下的变温控制 |
| 铁电压电热释电测试仪 | 铁电、压电、热释电性能测试 |
| 绝缘材料电学性能综合测试平台 | 绝缘电阻、介电强度、介电常数测试 |
| 电击穿强度试验仪 | 材料耐电压击穿性能测试 |
| 耐电弧试验仪 | 材料耐电弧性能测试 |
| 高压漏电起痕测试仪 | 绝缘材料表面漏电性能测试 |
| 冲击电压试验仪 | 雷电冲击、操作冲击测试 |
| 储能材料电学测控系统 | 超级电容器、电池材料测试 |
| 压电传感器测控系统 | 压电传感器性能标定与测试 |
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