材料电滞回线测试探针台

HCCS-4材料电滞回线测试探针台

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HCCS-4材料电滞回线测试探针台由华测仪器生产，采用U型针座平台，可同时容纳2~4个CB-100探针座同时点测；带有锁定旋钮夹盘，可以附加单独的校准片载台；样品固定采用不低于4″卡盘，采用中间吸附孔和多圈吸附环固定样品，均单独控制，中间吸附孔下限可以选择250微米。

产品参数

台体参数

水平旋转：可360°旋转，可微调15°，精度0.1°，带角度锁死装置

X-Y移动行程：4英寸*4英寸（卡盘X-Y轴无间隙移动）

X-Y移动精度：1μm

样品台调节：平台可升降调节适合加装探针卡，便于针卡重定位

显微镜参数

显微镜环绕立柱旋转式设计，便于快速移动显微镜，显微镜移动范围覆盖样品台；卡盘可做电极引出信号进行双面测试

总放大倍率：16倍~100倍

变焦：0.8倍~5倍

CCD：带CCD接口和0.4XC-mount；下限分辨率至2μm

镜座：双目观察倾斜45°，双瞳距调节范围：52~75mm，倾斜360°旋转

X,Y,Z轴方向调节范围：＞50.8mm，调节精度小于2μm

工作距离：115mm，加装2倍辅助镜工作距离40mm

光源：带外置LED高亮无极调节亮度环形光源

温控参数

温度范围：室温~400℃

分辨率：0.1℃

控温精度：0.1℃

温度稳定性：±1℃