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探针台(中端)

简要描述:Huace-6 探针台(中端)以其更优的机械稳定性、更宽的样品兼容性以及丰富的可升级选项,成为连接基础测试与应用之间的理想桥梁。

  • 产品型号:Huace-6
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2026-02-26
  • 访  问  量:13

详细介绍

产地类别国产应用领域化工,能源,电子/电池,航空航天,电气

一、产品简介

Huace-6 中端探针台是北京华测试验仪器有限公司在深耕材料电学测试领域多年经验基础上,精心打造的一款高性能手动探针台系统。本产品定位于满足科研机构与工业企业对测试精度、样品兼容性及扩展功能的更高要求,在继承Huace系列产品操作便捷、经济实用等优点的同时,实现了关键性能指标的全面升级。

基本工作原理:测试人员将待测器件置于探针台载物台(Chuck)上,在显微镜观测下通过X-Y方向移动样品台,精确定位待测区域。随后,通过旋转探针座上的X-Y-Z三轴调节旋钮,控制前部探针(直流或射频探针)精确扎触至被测电极点,使器件信号线通过探针与外部测试机(如源表、LCR表、半导体参数分析仪等)形成导通回路,进而获取所需的电性能参数。

Huace-6 以其更优的机械稳定性、更宽的样品兼容性以及丰富的可升级选项,成为连接基础测试与应用之间的理想桥梁。

 


二、产品特点与应用

2.1 核心特点

  • 宽样品兼容性:支持4英寸、6英寸、8英寸多种规格样品测试,适应更广泛的测试需求

  • 高精度传动:采用精密同轴丝杠传动结构,确保探针移动平稳线性,定位精准可靠

  • 光学系统升级:兼容高倍率金相显微镜,支持同轴光源照明,最高放大倍率可达4000×

  • 扩展升级能力:可升级射频测试、大电流测试及激光修复应用,满足前沿研究需求

  • 操作便捷性:人体工学设计,旋钮操作顺手,显微镜位置可灵活调节

  • 机械稳定性:更扎实的底座设计,有效降低操作过程中的微震动

2.2 典型应用领域

  • 半导体器件表征:二极管、晶体管、MOSFET、功率器件等电学性能测试

  • 集成电路测试:芯片内部模块验证、失效分析

  • 材料科学研究:二维材料、宽禁带半导体、铁电材料等新材料电学性能研究

  • 光电测试:光电探测器、太阳能电池、LED的光电响应特性测量

  • 射频器件测试:高频滤波器、放大器、天线的S参数测试(需选配射频配件)

  • 功率器件测试:IGBT、MOSFET等高功率器件的I-V特性测试(需选配高压配件)

  • 激光修复应用:配合激光系统实现芯片内部电路的精准修复(需选配激光配件)


三、技术参数规格

3.1 台体系统参数

 
 
参数项目 技术规格
产品型号 Huace-6
适用样品尺寸 4英寸 / 6英寸 / 8英寸(可选)
样品台水平旋转 360° 连续旋转,带角度锁死装置
微调范围 ±15°,调节精度 0.1°
X-Y移动行程 4英寸 × 4英寸 / 6英寸 × 6英寸(根据配置)
X-Y移动精度 10μm / 1μm(根据配置)
样品台Z轴调节 升降范围 10mm
样品固定方式 真空吸附(中心吸附孔 + 多圈吸附环)
针座平台 U型设计,最多可放置6个探针座
背电极测试 样品台电学独立悬空
配备4mm插孔用于背电极信号引出
外形尺寸(L×W×H) 400mm × 400mm × 600mm(4"/6"配置)
580mm × 480mm × 600mm(8"配置)
设备重量 约20kg - 35kg(根据配置)

3.2 光学系统参数

 
 
参数项目 技术规格
显微镜类型 单筒显微镜 / 体式显微镜 / 金相显微镜(可选)
放大倍率 标准配置:16× - 200×
高倍配置:20× - 4000×(需选配金相显微镜)
显微镜移动行程 X-Y轴:2英寸 × 2英寸(约50mm × 50mm)
Z轴:50.8mm升降
光源类型 标准配置:外置LED环形光源,无极亮度调节
高配选项:同轴照明光源(适用于高倍金相观察)
CCD相机(选配) 200万像素 / 500万像素 / 1200万像素可选

3.3 定位器(探针座)参数

 
 
参数项目 技术规格
X-Y-Z移动行程 12mm × 12mm × 12mm
移动精度(可选) 10μm / 2μm / 0.7μm / 0.5μm
吸附方式 磁力吸附 / 真空吸附
漏电精度(可选) 10pA / 100fA / 10fA
探针固定方式 弹簧固定 / 管状固定
接头类型 BNC / 三同轴 / 香蕉头 / 鳄鱼夹 / 接线端子
线缆类型 同轴线 / 三轴线
针尖直径(可选) 0.2μm / 1μm / 2μm / 5μm / 10μm / 20μm
针尖材质 钨钢 / 铍铜

四、系统组成与工作原理

4.1 系统构成

Huace-6 中端探针台主要由以下核心部件组成:

 
 
部件名称 功能说明
底座与支撑结构 提供整体稳定性,承载所有部件,内部可布置减震材料
样品台(Chuck) 用于放置和固定被测样品,具备X-Y-Z三向调节、360°旋转及微调功能
探针座平台 U型布局,可安装最多6个独立探针座,布局灵活
探针座(定位器) 独立的三轴微动平台,用于精确控制探针位置,不同精度可选
显微镜系统 用于观察样品表面和探针位置,支持多种显微镜类型
照明系统 提供充足、均匀的样品照明,可选环形光或同轴光
真空吸附系统 通过真空负压固定样品,确保测试过程中样品位置稳定
屏蔽与接地 降低外界电磁干扰,保证微弱信号测试精度

4.2 工作原理详解

4.2.1 机械定位原理

  • 粗定位(样品台级):通过移动样品台的X-Y旋钮,将待测区域移动至显微镜视场中心。样品台具备360°旋转功能,便于调整样品取向。±15°的微调功能配合0.1°刻度,可实现精确的角度对准。

  • 精定位(探针座级):通过调节探针座的X-Y-Z三轴微分头,控制探针针尖以微米级精度移动至目标电极点。不同精度等级的探针座(10μm/2μm/0.7μm/0.5μm)可满足从常规电极到亚微米电极的测试需求。

  • 接触控制:通过显微镜观察针尖与电极的接触形变或反射变化,判断接触状态。经验丰富的操作者可通过手感判断接触程度。

4.2.2 电学测试原理

  • 信号路径:被测器件 → 探针针尖 → 探针臂 → 同轴/三轴线缆 → 接头 → 外部测试仪器

  • 背电极连接:对于垂直结构器件,通过样品台的4mm插孔引出背部电极信号,实现两端子或三端子器件的完整测试。

  • 漏电控制:高精度探针座(100fA/10fA级)采用三同轴设计,配合低噪声线缆和良好的接地屏蔽,实现微弱电流的精确测量。

  • 高频测试原理(选配):射频探针配合特征阻抗匹配的线缆(通常为50Ω),连接至网络分析仪,实现S参数、增益、驻波比等高频特性测试。

4.2.3 光学观察原理

  • 明场观察:光线垂直或环形照射样品表面,反射光进入物镜形成图像,适用于大多数常规样品。

  • 同轴照明:光线通过分光棱镜沿物镜光轴垂直照射样品,适用于高倍率金相观察,可清晰显示样品表面细节。

  • 图像采集:通过CCD相机将光学图像转换为数字信号,在显示器上实时显示,便于多人同时观察和记录。


五、操作指南

5.1 准备工作

 
 
步骤 操作内容 注意事项
环境检查 将探针台置于平稳的工作台面或光学防震台上,确保无强震动、无强电磁干扰 高精度测试建议使用光学防震台
样品准备 清洁样品表面,确保电极区域洁净无污染 可使用无尘布蘸取无水乙醇或丙酮轻轻擦拭
探针选择 根据测试需求选择合适针尖直径、材质和精度的探针 电极尺寸决定针尖直径,测试电流决定探针载流能力
仪器连接 将探针通过线缆连接至外部测试仪器(源表、LCR表、网络分析仪等) 确保接头拧紧,避免接触不良
真空连接 连接真空泵,检查吸附孔是否通畅 可先开启真空测试吸附效果

5.2 标准操作流程

 
 
步骤 操作内容 技术要点
Step 1 开启真空泵,将样品放置于样品台中心位置,通过真空吸附固定 确认样品平整,吸附牢固,大尺寸样品可辅助使用边缘夹具
Step 2 调节显微镜粗调旋钮,使物镜接近样品表面,通过目镜或显示器观察,直至清晰观察到样品表面 先从低倍镜开始,便于快速定位
Step 3 移动样品台X-Y,将待测电极区域移至视场中心 可记录样品台坐标,便于重复定位
Step 4 安装探针座至U型平台,调整探针座大致位置,确保探针位于样品上方约1-2mm安全距离 避免探针意外碰撞样品
Step 5 缓慢调节探针座Z轴,使探针针尖下降至接近样品表面 从侧面观察针尖与样品距离,或在显微镜焦点平面观察针尖影像
Step 6 调节探针座X-Y,使针尖对准目标电极中心 利用显微镜十字准星或显示器上的标记辅助对准
Step 7 微调Z轴使探针轻轻接触电极表面,观察到针尖轻微弯曲或电极表面反射变化 避免过度下压,一般接触深度控制在针尖直径的1/3以内
Step 8 重复Step 5-7,完成其他探针的扎针操作 多根探针操作时,注意操作顺序,避免相互干扰
Step 9 启动外部测试仪器,执行预设测试项目 先进行开路/短路测试,确认连接正常
Step 10 记录测试数据,完成测试后,先缓慢抬起所有探针,再关闭真空取出样品 抬起探针时先Z轴后X-Y,避免横向划伤样品

5.3 高级操作技巧

  • 阶梯对针法:对于极小电极(<10μm),可采用“先低倍定位,再高倍精调”的分步策略,先用低倍镜将探针移至电极附近,再切换高倍镜进行最终对准。

  • 角度观察技巧:适当倾斜显微镜观察角度,利用针尖在样品表面的投影判断垂直距离,避免下针过猛损伤样品。

  • 接触电阻判断:通过测试仪器实时监测接触电阻,判断探针与电极的接触质量。接触电阻突增通常表示接触不良或针尖污染。

  • 多点测试编程:对于重复性测试,可记录样品台坐标和探针座位置,实现半自动化的多点测试。


六、维护保养规程

6.1 日常维护

 
 
维护项目 频率 操作方法 注意事项
样品台清洁 每次使用后 无尘布蘸取无水乙醇或异丙醇轻轻擦拭 避免划伤台面,防止液体渗入运动机构
探针检查 每次使用前后 显微镜下观察针尖状态,用清洁纸轻轻擦拭针尖去除附着物 发现针尖弯曲、氧化或磨损应及时处理或更换
真空吸附检查 每日 测试吸附孔是否通畅,吸附力是否达标 堵塞时用专用通针轻轻疏通,不可用硬物扩大孔径
运动部件检查 每周 检查各调节旋钮是否顺畅,有无异响或空回 发现卡滞或松动及时联系技术人员
光学系统清洁 每周 用专业镜头纸或镜头笔清洁物镜和目镜表面 避免使用有机溶剂擦拭镀膜镜头

6.2 定期维护

 
 
维护项目 频率 操作方法 标准要求
探针更换/研磨 按需/每月 更换新探针或使用专用研磨片修复针尖 针尖直径符合测试要求,表面光洁无氧化
导轨润滑 每季度 涂抹适量专用润滑脂于移动导轨和微分头螺纹 使用不含酸性成分的精密仪器润滑脂
电气连接检查 每月 检查所有线缆、接头有无松动、破损、氧化 接触不良时重新插拔,氧化处用接触清洁剂处理
接地电阻测试 每半年 使用接地电阻测试仪测量设备接地电阻 接地电阻 < 1Ω
真空管路检查 每季度 检查真空管路有无老化、裂纹,接头是否紧固 发现老化及时更换,防止真空泄漏
整机校准 每年 使用标准校准片校验定位精度和显微镜倍率 定位偏差超过20μm需调整,倍率偏差超过5%需校准

6.3 常见故障排除

 
 
故障现象 可能原因 排查方法 解决方案
显微镜视野模糊 物镜污染/焦距失调/镜头松动 检查物镜表面清洁度,重新调焦 清洁物镜,重新调焦,紧固镜头
探针无法接触电极 Z轴行程不足/针尖过短/样品过厚 检查探针安装位置和样品厚度 调整探针座Z轴初始高度,更换长针尖探针
真空吸附力不足 吸附孔堵塞/管路漏气/真空泵故障 检查吸附孔、气管连接和真空泵工作状态 疏通吸附孔,更换密封圈,检修真空泵
测试信号不稳定/噪声大 探针接触不良/屏蔽接地不良/线缆损坏 检查针尖与电极接触状态,检查接地线 重新扎针,检查接地线,更换损坏线缆
X-Y移动卡滞或空回 导轨污染/润滑不足/微分头磨损 检查导轨清洁度和微分头手感 清洁导轨,添加润滑脂,更换磨损微分头
图像有暗影或亮度不均 光源位置不当/光源老化/物镜污染 调整光源角度和亮度,检查物镜 调节光源,更换光源,清洁物镜
探针座漂移 磁力吸附不牢/平台震动/微分头松动 检查探针座固定情况,检查环境震动 重新吸附固定,加装防震措施,紧固微分头
高低倍转换后找不到目标 显微镜同轴性偏差 使用十字校准片检查同轴性 调整显微镜安装位置,进行同轴校准

七、可选附件与升级方案

Huace-6 中端探针台提供丰富的可选附件和升级方案,满足用户不断发展的测试需求:

 
 
附件类别 可选型号/规格 功能说明 适用场景
加热台 室温 - 300°C / 室温 - 600°C 实现变温条件下的电学测试 材料热稳定性研究、高温器件测试
显示器 19英寸/22英寸/27英寸高清监视器 配合CCD相机实现大屏幕观察 教学演示、多人协作、精细对针
转接头 BNC转香蕉头、SMA转BNC、三同轴转BNC等 适配不同接口的测试仪器 多仪器联用、接口不匹配时
射频测试配件 射频探针(DC-40GHz/67GHz)、SMA/2.92mm/1.85mm线缆、校准件 支持高频器件S参数测试 5G通信器件、射频前端模块、微波电路测试
高压测试配件 高压探针(耐压1000V/3000V)、高压线缆、保护电阻 支持功率器件高压测试 IGBT、MOSFET、功率二极管测试
大电流测试配件 大电流探针(10A/20A/50A)、大电流线缆、 Kelvin连接 支持功率器件大电流测试 功率模块、电源芯片测试
屏蔽箱 全封闭电磁屏蔽箱,带观察窗 降低外界电磁干扰,提高测试精度 微弱信号测试、低噪声测量
光学平台 被动/主动减震光学平台(600×600/900×600/1200×800) 消除外界震动干扰 高倍率观察、精密对针、低噪声测试
镀金卡盘 4英寸/6英寸/8英寸镀金卡盘(可替代原装样品台) 提高导电性和抗氧化能力,减小接触电阻 对接触电阻敏感的测试、高频测试
光电测试配件 光纤接口、激光器支架、光功率计 支持光电探测器、太阳能电池测试 光电器件表征、响应度测试
显微镜快速倾仰装置 气动/手动快速抬起机构 方便快速更换样品或探针 频繁更换样品的应用场景
激光系统 飞秒/纳秒激光器、精密光路调节系统 实现芯片内部电路的精准修复 失效分析、电路修正
探针卡夹具 兼容多种标准探针卡接口 支持批量测试中的快速换型 晶圆级测试、生产质量控制
防震罩 透明亚克力防尘防震罩 减少气流扰动和灰尘污染 长时间测试、洁净环境

八、配置选型指南

为帮助用户选择的配置,我们提供以下选型建议:

8.1 根据样品尺寸选择

 
 
样品尺寸 推荐配置 说明
≤4英寸(100mm) Huace-6-4" 4英寸样品台,4"×4"行程,经济实用
4-6英寸(150mm) Huace-6-6" 6英寸样品台,6"×6"行程,兼顾尺寸与精度
6-8英寸(200mm) Huace-6-8" 8英寸样品台,6"×6"行程,加大底座更稳定

8.2 根据测试精度选择

 
 
测试需求 推荐配置 说明
常规测试(电极≥50μm) X-Y移动精度10μm,探针座精度10μm 满足大部分常规器件测试
精密测试(电极10-50μm) X-Y移动精度1μm,探针座精度2μm/0.7μm 适合小尺寸电极芯片测试
高精密测试(电极<10μm) X-Y移动精度1μm,探针座精度0.5μm,配高倍显微镜 适合先进工艺芯片、纳米材料测试

8.3 根据测试类型选择

 
 
测试类型 推荐配置 说明
常规I-V/C-V测试 标准配置 + 同轴线缆 + BNC接头探针座 满足基本电学测试需求
微弱信号测试(pA/fA级) 高精度探针座(100fA/10fA)+ 三轴线缆 + 屏蔽箱 + 光学平台 降低噪声,提高测试精度
高频测试(>1GHz) 射频探针 + 射频线缆 + 镀金卡盘 + 低介电常数样品台 保证信号完整性
高压/大电流测试 高压/大电流探针 + 专用线缆 + 加强绝缘 确保测试安全
变温测试 加热台 + 温度控制器 + 测温传感器 实现温度特性表征
光电测试 标准配置 + 光纤接口 + 光源支架 支持光电响应测试

九、订购信息

 
 
产品配置 产品编号 描述
基础配置(4英寸) Huace-6-4B 4英寸样品台,U型平台,X-Y精度10μm,不含显微镜和探针座
标准配置(4英寸) Huace-6-4S 4英寸样品台,单筒显微镜16-200×,4个探针座(10μm精度)
标准配置(6英寸) Huace-6-6S 6英寸样品台,单筒显微镜16-200×,4个探针座(10μm精度)
标准配置(8英寸) Huace-6-8S 8英寸样品台,单筒显微镜16-200×,4个探针座(10μm精度)
高配配置(6英寸) Huace-6-6A 6英寸样品台,体式显微镜20-4000×,4个探针座(2μm精度),1200万像素CCD
射频测试配置 Huace-6-RF 6英寸镀金卡盘,4个射频探针座(0.7μm精度),射频线缆,适配器
高压测试配置 Huace-6-HV 6英寸样品台,4个高压探针座,高压线缆,绝缘防护套件
定制配置 Huace-6-Custom 根据客户具体需求定制

订购说明

  • 标准交货期:收到订单后20个工作日内

  • 包装运输:专用木箱包装,物流送货上门

  • 付款方式:电汇,预付50%,发货前付清尾款

  • 质保期:整机12个月(易耗品除外)


十、售后服务

北京华测试验仪器有限公司秉承经营理念,为客户提供售后支持:

 
 
服务项目 服务内容
安装培训 提供远程指导,可选上门安装调试服务,培训至操作人员熟练掌握基本操作和维护技能
技术热线 设立7×12小时技术,解答客户在使用过程中遇到的问题
质保期限 整机12个月免费保修(探针、光源灯泡等易耗品除外),终身有偿维修
响应时间 2小时内响应客户需求,48小时内给出解决方案,紧急情况可协调现场支持
软件支持 提供技术咨询和软件升级提示
备件供应 长期供应原厂备件,保证5年以上供应周期
校准服务 提供定期有偿校准服务,确保设备长期保持出厂精度
延保服务 可选1年/2年/3年延保服务,享受优先处理和折扣维修

十一、公司简介与主营产品

北京华测试验仪器有限公司是一家专注于材料电学测试技术的高新技术企业,集研发、生产、销售、服务于一体。公司依托中关村科技园区的创新资源,汇聚了一批在材料测试领域具有丰富经验的专业技术人才,致力于为科研院所、高校及工业企业提供高性能、高可靠性的测试解决方案。

公司主营产品系列:

 
 
产品系列 主要型号 典型应用
功能材料电学综合测试系统 Huace-1000系列 介电、压电、铁电材料综合表征
绝缘诊断测试系统 Huace-ID系列 电力设备绝缘状态评估
高低温介电温谱测试仪 Huace-DTS系列 变温介电性能测试(-160°C ~ +500°C)
极化装置与电源 Huace-PS系列 压电材料极化处理
高压放大器 Huace-HVA系列 高电压信号放大驱动(±10kV)
PVDV薄膜极化 Huace-PF系列 聚合物薄膜极化处理
高低温冷热台 Huace-TS系列 显微观察下的变温控制(-196°C ~ +600°C)
铁电压电热释电测试仪 Huace-FE系列 铁电、压电、热释电性能综合测试
绝缘材料电学性能综合测试平台 Huace-IM系列 绝缘电阻、介电强度、介电常数测试
电击穿强度试验仪 Huace-BD系列 材料耐电压击穿性能测试(最高100kV)
耐电弧试验仪 Huace-AR系列 材料耐电弧性能测试
高压漏电起痕测试仪 Huace-TT系列 绝缘材料表面漏电性能测试
冲击电压试验仪 Huace-IMP系列 雷电冲击、操作冲击测试
储能材料电学测控系统 Huace-ES系列 超级电容器、电池材料测试
压电传感器测控系统 Huace-PS系列 压电传感器性能标定与测试
手动探针台系列 Huace-4S/6/8系列 器件级电学测试、材料表征
全自动探针台系列 Huace-Auto系列 批量测试、晶圆级可靠性测试
 

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