介质损耗测试仪

华测仪器HC-Q37a介质损耗测试仪

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HC-Q37a介质损耗测试仪由华测仪器生产，用来测量高压器件（如绝缘材料）的介电常数及介电损耗功能。该仪器以锁相放大器原理运作，能够分析容性和感性负载，特别是旁路电抗器。具有精度和稳定性。用户可以手动和自动模式之间进行选择。可选择手动模式测量，而自动模式则支持自动化试验序列。

产品优势

1.手动与自动模式都操作简便，软件辅助试验准备，执行和趋势分析。

2.能提供完整的测量系统，包括：标准电容，标准损耗器、测试电极。

3.可以测量不同频率下的类型绝缘材料介电常数及损耗。

4.系统采用高压功率放大器及锁相放大器技术。

产品特性

1.准确度：电容 0.02%, 介损 1×10^-6。

2.附加信号分析功能：图谱分析，数字示波器和数据记录功能均已被集成。

3.是一款针对此类试验的优化产品。

4.紧凑，可靠，并具备EMC 固化设计。

5.集成解决方案，内置工业电脑。

6.可选手动和自动模式。

产品参数

耗散因数(tanδ)：0 ~ 100；显示分辨率：1x10^-7

功率因数(cosφ)：0 ~ 1；显示分辨率：1x10^-6