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  • HCQD-4长期耐腐蚀老化试验平台/评估老化腐蚀现象
    HCQD-4长期耐腐蚀老化试验平台/评估老化腐蚀现象

    更新时间:2024-12-12

    型号:HCQD-4

    浏览量:571

    长期耐腐蚀老化试验平台/评估老化腐蚀现象面对材料越来越小型轻量及高密度封装,因结露、吸湿、电场环境等因素造成的绝缘不良现象暨离子迁移现象日益突出,长期电化学腐蚀平台,可高的精度连续试验,高效简便评估因老化腐蚀现象引起的寿命及绝缘电阻劣化相关问题。
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  • HCDH-3高压漏电起痕测试标准
    HCDH-3高压漏电起痕测试标准

    更新时间:2025-02-17

    型号:HCDH-3

    浏览量:41

    HCLD-3系列高压漏电起痕测试标准采用PLC作为主控制系统,配合电压、电流传感 器、高压真空断路开关、高压交直流变压器元件构成。
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  • FDS 2000绝缘诊断分析仪绝缘材料样品介质响应测试
    FDS 2000绝缘诊断分析仪绝缘材料样品介质响应测试

    更新时间:2025-02-07

    型号:FDS 2000

    浏览量:175

    FDS 2000绝缘诊断分析仪绝缘材料样品介质响应测试是一台非常紧凑的设备,需另配电脑进行操作。FDS2绝缘诊断分析仪是基于电介质介电响应理论,集介电响应测试与绝缘状态评估及诊断一体的综合绝缘分析系统。该仪器的测试频率范围为1mHz-1kHz,且在低频范围内可以选用快速测试方式,在保证测试精度的前提下,大幅减少实验室测量时的等待时间及现场测量的停电时间。
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  • FDS-2000半导体封装材料绝缘诊断测试仪
    FDS-2000半导体封装材料绝缘诊断测试仪

    更新时间:2024-12-12

    型号:FDS-2000

    浏览量:682

    半导体封装材料绝缘诊断测试仪,是一款高压绝缘诊断仪器是基于电介质介电响应理论,集介电响应测试与绝缘状态评估及诊断一体的综合绝缘分析系统。该仪器的测试频率范围为1mHz-1kHz,且在低频范围内可以选用快速测试方式,在保证测试精度的前提下,大幅减少实验室测量时的等待时间及现场测量的停电时间。 绝缘诊断测试仪/绝缘系统状态评估与诊断
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  • HC9023绝缘材料电阻/评价平台测试设备
    HC9023绝缘材料电阻/评价平台测试设备

    更新时间:2024-12-12

    型号:HC9023

    浏览量:640

    绝缘材料电阻/评价平台测试设备运用平行板法设计原理测量。利用特殊的电阻测试系统,重复性与稳定性好,提升了夹具的抗干扰能力,同时大大提高精确度,可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。
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