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  • HCQD-4长期耐腐蚀老化试验平台/评估老化腐蚀现象
    HCQD-4长期耐腐蚀老化试验平台/评估老化腐蚀现象

    更新时间:2024-12-06

    型号:HCQD-4

    浏览量:407

    长期耐腐蚀老化试验平台/评估老化腐蚀现象面对材料越来越小型轻量及高密度封装,因结露、吸湿、电场环境等因素造成的绝缘不良现象暨离子迁移现象日益突出,长期电化学腐蚀平台,可高的精度连续试验,高效简便评估因老化腐蚀现象引起的寿命及绝缘电阻劣化相关问题。
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