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华测*-差示扫描量热仪测试仪

简要描述:华测*-差示扫描量热仪测试仪自主研制的热分析仪系列产品主要面向工业用户、科研与教学,广泛应用于各类材料与化学领域的新品研发,工艺优化与质检质控等。主要测量与热量有关的物理和化学的变化,如物质的熔点熔化热、结晶点结晶热、相变反应热、玻璃化转变温度、热稳定性(氧化诱导期)等。

  • 产品型号:HCCS-3000
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2023-08-29
  • 访  问  量:1368

详细介绍

品牌北京华测电动机功率/kW
外形尺寸/mm重量/kg
应用领域化工,能源,电子,电气,综合

HCCR-3000华测差热分析仪


一、型号(HCCR-3000)
二、华测*-差示扫描量热仪测试仪产品简介:

差热分析(DTA)是在程序控制温度下,测量物质和参比的温度差和温度关系的一种技术。当试样发生任何物理或化学变化时,所释放或吸收的热量使试样温度高于或低于参比物的温度,从而相应地在差热区线上可得到放热或吸热峰。差热曲线(DTA)是由差热分析得到的记录曲线。曲线的纵坐标为试样与参比物的温度差(△T),向上表示放热反应,向下表示吸热反应。差热分析也可以测定试样的热容变化,它在差上发映出基线的偏离。

三、华测*-差示扫描量热仪测试仪术指标

1. 温度范围: 室温~1000℃

2. 量程范围: 0~±2000μV

3. DTA精度: ±0.1μV

4. 升温速率: 1~80℃/min

5. 温度分辨率: 0.1℃

6. 温度准确度: ±0.1℃

7. 温度重复性: ±0.1℃

8. 温度控制: 升温:程序控制        可根据需要进行参数的调整

降温:风冷 程序控制   可选配 半导体冷却系统、液氮冷却系统 等

恒温:程序控制        恒温时间任意设定

9. 炉体结构: 炉体采用上开盖式结构,代替了传统的升降炉体,精度高,易于操作

10. 气氛控制: (选配)气体流量计,气氛转换装置

11. 数据接口: RS-232串口通讯  配套数据线和操作软件

12. 主机显示: 汉字大屏液晶显示 蓝底白字

13. 参数标准: 配有标准物,用户可自行对温度进行校正

14. 基线调整: 用户可通过基线的斜率和截距来调整基线

15. 工作电源: AC 220V  50Hz

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