简易探针台-北京华测试验仪器有限公司

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功能材料测试仪器

压电陶瓷强场介电性能压电材料电场应变特性的测试仪激光测振仪传感器多功能综合测试系统先进功能材料电测综合测试系统长期耐腐蚀老化试验平台- 高电场介电、损耗、漏电流测试系统阻抗分析仪铁电综合材料测试系统铁电分析仪高压功率放大器 D33压电系数测试仪高温介电温谱测试仪热释电测试仪 TSDC热刺激电流测试仪高压极化装置高低温冷热台简易探针台高温四探针测试仪多通道电流采集系统高真空退火炉电学综合测试系统高温管式炉测试仪漆包线击穿耐压试验仪电化学迁移测试系统水平垂直燃烧测定机陶瓷材料闪烧试验装置导通电评估系统差热分析仪医用接地电阻

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华测半导体封装材料高低温真空探针台

更新时间：2024-12-12

型号：

浏览量：2520

华测半导体封装材料高低温真空探针台，温度范围77K-675K(液氮)；可应用于真空及常规环境；超高温度分辨率；特殊客制低温系统；具有较好稳定性
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Huace-6S半导体封装材料高低温探针台

更新时间：2024-12-12

型号：Huace-6S

浏览量：2370

半导体封装材料高低温探针台，可用于12英寸以内样品测试，采用密闭腔结构，屏蔽外部电信干扰同时保持氮气正压环境下样品在低温时无结霜。
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Huace-8 综合性分析探针台

更新时间：2024-12-12

型号：

浏览量：3028

Huace-8 综合性分析探针台zd可用于12英寸以内样品测试；操作便捷，功能其全，高效精准；可满足晶片测试、光电器件测试、PCB/IC测试、射频测试、高压大电流测试等
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Huace-8D 双面探针台

更新时间：2024-12-12

型号：

浏览量：2370

Huace-8D 双面探针台可用于晶圆和PCB板测试，用于需要正面和背面同时扎针，以实现各种光/电性能测试需求的测试设备。
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