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  • 华测高温四探针测试仪器
    华测高温四探针测试仪器

    更新时间:2024-06-06

    型号:

    浏览量:1263

    HGTZ-800华测高温四探针测试仪器器系统搭配Labview系统开发的hcpro软件,具备弹性的自定义功能,可进行电压、电流、温度、时间等设置,符合导体、半导体材料与其它新材料测试多样化的需求。
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  • HGTZ-800华测高温四探针测试仪器
    HGTZ-800华测高温四探针测试仪器

    更新时间:2023-08-09

    型号:HGTZ-800

    浏览量:919

    华测高温四探针测试仪器——高温四探针测试仪采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能。采用芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,配备10英寸触摸屏,软件可保存和打印数据,自动生成报表。
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  • 华测高温四探针测试仪器  居里温度
    华测高温四探针测试仪器 居里温度

    更新时间:2024-06-12

    型号:

    浏览量:919

    华测高温四探针测试仪器 居里温度采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能。
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  • HCTZ-2四探针测试仪器
    HCTZ-2四探针测试仪器

    更新时间:2023-08-29

    型号:HCTZ-2

    浏览量:852

    HCTZ-2型数字式四探针测试仪器是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。仪器采用了电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。
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  • HCTZ-2S北京华测*四探针测试仪
    HCTZ-2S北京华测*四探针测试仪

    更新时间:2024-06-13

    型号:HCTZ-2S

    浏览量:1510

    HCTZ-2S北京华测*四探针测试仪器是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。
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  • HCTZ-2S北京华测试验仪器四探针测试仪
    HCTZ-2S北京华测试验仪器四探针测试仪

    更新时间:2023-08-29

    型号:HCTZ-2S

    浏览量:1116

    HCTZ-2S北京华测试验仪器四探针测试仪器是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。
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  • HCTZ-2S华测四探针测试仪
    HCTZ-2S华测四探针测试仪

    更新时间:2024-06-13

    型号:HCTZ-2S

    浏览量:1261

    HCTZ-2S华测四探针测试仪器是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。
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  • HCTZ-2S北京华测四探针测试仪
    HCTZ-2S北京华测四探针测试仪

    更新时间:2024-06-13

    型号:HCTZ-2S

    浏览量:1299

    HCTZ-2S北京华测四探针测试仪器是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。
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