高温四探针测试仪-北京华测试验仪器有限公司

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功能材料测试仪器

压电陶瓷强场介电性能压电材料电场应变特性的测试仪激光测振仪传感器多功能综合测试系统先进功能材料电测综合测试系统长期耐腐蚀老化试验平台- 高电场介电、损耗、漏电流测试系统阻抗分析仪铁电综合材料测试系统铁电分析仪高压功率放大器 D33压电系数测试仪高温介电温谱测试仪热释电测试仪 TSDC热刺激电流测试仪高压极化装置高低温冷热台简易探针台高温四探针测试仪多通道电流采集系统高真空退火炉电学综合测试系统高温管式炉测试仪漆包线击穿耐压试验仪电化学迁移测试系统水平垂直燃烧测定机陶瓷材料闪烧试验装置导通电评估系统差热分析仪

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华测高温四探针测试仪器

更新时间：2024-06-06

型号：

浏览量：4312

HGTZ-800华测高温四探针测试仪器器系统搭配Labview系统开发的hcpro软件，具备弹性的自定义功能，可进行电压、电流、温度、时间等设置，符合导体、半导体材料与其它新材料测试多样化的需求。
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HGTZ-800华测高温四探针测试仪器

更新时间：2023-08-09

型号：HGTZ-800

浏览量：3355

华测高温四探针测试仪器——高温四探针测试仪采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。采用芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，配备10英寸触摸屏，软件可保存和打印数据，自动生成报表。
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华测高温四探针测试仪器居里温度

更新时间：2024-06-12

型号：

浏览量：3764

华测高温四探针测试仪器居里温度采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。
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HCTZ-2四探针测试仪器

更新时间：2023-08-29

型号：HCTZ-2

浏览量：3339

HCTZ-2型数字式四探针测试仪器是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。仪器采用了电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。
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HCTZ-2S北京华测*四探针测试仪

更新时间：2024-06-13

型号：HCTZ-2S

浏览量：4311

HCTZ-2S北京华测*四探针测试仪器是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。
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HCTZ-2S北京华测试验仪器四探针测试仪

更新时间：2023-08-29

型号：HCTZ-2S

浏览量：3516

HCTZ-2S北京华测试验仪器四探针测试仪器是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，于测试半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）的仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。
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HCTZ-2S华测四探针测试仪

更新时间：2024-06-13

型号：HCTZ-2S

浏览量：3836

HCTZ-2S华测四探针测试仪器是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，于测试半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）的仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。
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HCTZ-2S北京华测四探针测试仪

更新时间：2024-06-13

型号：HCTZ-2S

浏览量：3711

HCTZ-2S北京华测四探针测试仪器是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。
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