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    HC2661型手持式四探针测试仪,可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻,适用于半导体和太阳能材料测试的要求,也可对分立电阻进行测量,USB接口可为用户提供远程控制及测试数据的统计和分析。由于采用了电池和外接电源两种供电方式,既能适应固定场合对元器件进行检测,又可随身携带以满足测试人员的现场测试要求。
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    差示扫描量热仪测试仪器 HCCS-3000差示扫描量热仪是我公司自主研制的热分析仪系列产品主要面向工业用户、科研与教学,广泛应用于各类材料与化学领域的新品研发,工艺优化与质检质控等。主要测量与热量有关的物理和化学的变化,如物质的熔点熔化热、结晶点结晶热、相变反应热、玻璃化转变温度、热稳定性(氧化诱导期)等。
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