高电场介电、损耗、漏电流测试系统-北京华测试验仪器有限公司

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功能材料高电场介电，损耗，漏电流测试仪

更新时间：2024-12-30

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功能材料高电场介电，损耗，漏电流测试仪可实现从低频到高频信号的输出与测量，系统由工控机发出指令，单片机控制FPGA发出测量波形，FPGA一路信号控制不同频率幅值的信号由高压放大器进行电压放大后，施加在样品上，另一路施加在锁相放大器作为参考信号，不同频率幅值的高压信号加载样样品上，样品测量的信号测量后，再回传FPGA测试板卡。测量的数据再由单片机回传工控机进行数据处理。
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