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绝缘材料测试仪器

电热老化罐真空电热老化测试系统高阻计击穿电压测定仪表面体积电阻率测试仪耐电弧测试仪高压/漏电起痕试验仪低压/漏电起痕试验仪导电与防静电材料电阻率介电常数与介质损耗测试仪高温直流测试系统

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FDS 2000半导体封装材料绝缘诊断测试系统/测试仪

更新时间：2024-09-05

型号：FDS 2000

浏览量：6066

半导体封装材料绝缘诊断测试系统/测试仪，是基于电介质介电响应理论，集介电响应测试与绝缘状态评估及诊断一体的综合绝缘分析系统。是我们华测公司的优质仪器，售后好价格优请您放心的选购。
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FDS 2000半导体封装材料绝缘诊断分析仪/测试系统

更新时间：2025-07-29

型号：FDS 2000

浏览量：2599

半导体封装材料绝缘诊断分析仪/测试系统，是基于电介质介电响应理论，集介电响应测试与绝缘状态评估及诊断一体的综合绝缘分析系统。该仪器的测试频率范围为1mHz-1kHz，且在低频范围内可以选用快速测试方式，在保证测试精度的前提下，大幅减少实验室测量时的等待时间及现场测量的停电时间。
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HCLD-III触摸屏高压漏电起痕试验机测试仪器

更新时间：2025-09-11

型号：HCLD-III

浏览量：2467

触摸屏高压漏电起痕试验机测试仪器产品简介，HCDH-200漏电起痕试验仪适用于照明设备、低压电器、家用电器、机床电器、电机、电动工具、电子仪器、电工仪表、信息技术设备的研究、生产和质检部门，也适用于绝缘材料、工程塑料、电气连接件、辅件行业。，也适用于电气能力验证计划与技术研讨会中的有关CHEARI-PT003耐电痕化指数测试。
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Huace-300高阻计 /可测高电阻微电流

更新时间：2025-07-29

型号：Huace-300

浏览量：5739

Huace-300 高阻计 /可测高电阻微电流，既可测量高电阻，又可测微电流。测量精度达到3‰。
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Huace-EA25真空电热老化测试系统

更新时间：2026-01-16

型号：Huace-EA25

浏览量：156

真空电热老化测试系统是绝缘材料在高压、高温及多气氛环境下进行电热老化与击穿性能测试的综合性实验设备。
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Huace-EA25电热老化罐

更新时间：2026-01-15

型号：Huace-EA25

浏览量：155

电热老化罐是为绝缘材料电热老化及击穿性能测试设计的综合性实验设备。通过模拟高压、高温及多气氛环境，对绝缘材料在长期电热复合应力下的性能变化进行加速老化测试，评估其耐久性、稳定性和寿命特性。
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HC-Q37a介电常数与介质损耗测试仪

更新时间：2026-01-13

型号：HC-Q37a

浏览量：162

介电常数与介质损耗测试仪高压设备可靠性评估以及新型绝缘材料研发中，对绝缘介质电气性能的测量是至关重要的基础环节。介电常数（ε）和介质损耗因数（tanδ）作为评估绝缘材料性能的两个参数，直接反映了材料的极化能力与损耗特性，是判断设备绝缘状态、诊断潜在故障的关键依据。
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HCDJC-100kV绝缘材料高温电气强度测试仪

更新时间：2025-11-20

型号：HCDJC-100kV

浏览量：395

绝缘材料高温电气强度测试仪是环境模拟与电气强度测试设备。本测试仪采用立式箱体结构，配备便捷滑轮地脚与大面积观察窗，能够测量各种绝缘材料在高温环境及工频或直流电压下的击穿电压、介电强度和耐电压时间等。
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