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  • FDS 2000半导体封装材料绝缘诊断测试系统/测试仪
    FDS 2000半导体封装材料绝缘诊断测试系统/测试仪

    更新时间:2024-09-05

    型号:FDS 2000

    浏览量:6678

    半导体封装材料绝缘诊断测试系统/测试仪,是基于电介质介电响应理论,集介电响应测试与绝缘状态评估及诊断一体的综合绝缘分析系统。是我们华测公司的优质仪器,售后好价格优请您放心的选购。
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  • FDS 2000半导体封装材料绝缘诊断分析仪/测试系统
    FDS 2000半导体封装材料绝缘诊断分析仪/测试系统

    更新时间:2025-07-29

    型号:FDS 2000

    浏览量:2926

    半导体封装材料绝缘诊断分析仪/测试系统,是基于电介质介电响应理论,集介电响应测试与绝缘状态评估及诊断一体的综合绝缘分析系统。该仪器的测试频率范围为1mHz-1kHz,且在低频范围内可以选用快速测试方式,在保证测试精度的前提下, 大幅减少实验室测量时的等待时间及现场测量的停电时间。
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  • HCLD-III触摸屏高压漏电起痕试验机测试仪器
    HCLD-III触摸屏高压漏电起痕试验机测试仪器

    更新时间:2025-09-11

    型号:HCLD-III

    浏览量:2822

    触摸屏高压漏电起痕试验机测试仪器产品简介,HCDH-200漏电起痕试验仪适用于照明设备、低压电器、家用电 器、机床电器、电机、电动工具、电子仪器、电工仪表、信息技术设备的研究、生产和质检部门,也适用于绝缘材料、工程塑料、电气连接件、辅件行业。,也适用 于电气能力验证计划与技术研讨会中的有关CHEARI-PT003耐电痕化指数测试。
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  • Huace-300高阻计 /可测高电阻 微电流
    Huace-300高阻计 /可测高电阻 微电流

    更新时间:2025-07-29

    型号:Huace-300

    浏览量:6106

    Huace-300 高阻计 /可测高电阻 微电流,既可测量高电阻,又可测微电流。测量精度达到3‰。
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  • Huace DT-L3接触电阻测试系统
    Huace DT-L3接触电阻测试系统

    更新时间:2026-04-14

    型号:Huace DT-L3

    浏览量:191

    华测仪器Huace DT-L3接触电阻测试系统可在低高温交替的温度循环环境中,采用4端子测试法,对焊点、连接器接点等导体连接部位开展多通道高准度微小电阻连续监测,以此评估电子装配工艺的规范性及材料本身的连接可靠性。
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  • HC9023绝缘材料电阻性能综合测试系统
    HC9023绝缘材料电阻性能综合测试系统

    更新时间:2026-04-10

    型号:HC9023

    浏览量:189

    华测仪器HC9023绝缘材料电阻性能综合测试系统利用电阻测试系统,具有重复性与稳定性,优化了夹具的抗干扰能力,同时大大优化准确度,可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。
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  • Huace-991导电防静电材料电阻率测试仪
    Huace-991导电防静电材料电阻率测试仪

    更新时间:2026-04-09

    型号:Huace-991

    浏览量:190

    华测仪器Huace-991导电防静电材料电阻率测试仪电流输入端口采用大口径两同轴连接器,是将内部屏障连接至INPUT线,外部屏障连接至Current的两同轴设计,兼顾抗干扰的稳定性和高压检查时的防护性。
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  • Huace DT-L3并行导通电阻测试系统
    Huace DT-L3并行导通电阻测试系统

    更新时间:2026-04-07

    型号:Huace DT-L3

    浏览量:227

    华测仪器Huace DT-L3并行导通电阻测试系统通过计算机进行实时测定,可在测定过程中编辑、浏览数据;通过与环境试验箱联动,大幅度优化试验效率。
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