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  • FDS 2000半导体封装材料绝缘诊断测试系统/测试仪
    FDS 2000半导体封装材料绝缘诊断测试系统/测试仪

    更新时间:2024-09-05

    型号:FDS 2000

    浏览量:7493

    半导体封装材料绝缘诊断测试系统/测试仪,是基于电介质介电响应理论,集介电响应测试与绝缘状态评估及诊断一体的综合绝缘分析系统。是我们华测公司的优质仪器,售后好价格优请您放心的选购。
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  • FDS 2000半导体封装材料绝缘诊断分析仪/测试系统
    FDS 2000半导体封装材料绝缘诊断分析仪/测试系统

    更新时间:2025-07-29

    型号:FDS 2000

    浏览量:3376

    半导体封装材料绝缘诊断分析仪/测试系统,是基于电介质介电响应理论,集介电响应测试与绝缘状态评估及诊断一体的综合绝缘分析系统。该仪器的测试频率范围为1mHz-1kHz,且在低频范围内可以选用快速测试方式,在保证测试精度的前提下, 大幅减少实验室测量时的等待时间及现场测量的停电时间。
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  • HCLD-III触摸屏高压漏电起痕试验机测试仪器
    HCLD-III触摸屏高压漏电起痕试验机测试仪器

    更新时间:2025-09-11

    型号:HCLD-III

    浏览量:3267

    触摸屏高压漏电起痕试验机测试仪器产品简介,HCDH-200漏电起痕试验仪适用于照明设备、低压电器、家用电 器、机床电器、电机、电动工具、电子仪器、电工仪表、信息技术设备的研究、生产和质检部门,也适用于绝缘材料、工程塑料、电气连接件、辅件行业。,也适用 于电气能力验证计划与技术研讨会中的有关CHEARI-PT003耐电痕化指数测试。
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  • Huace-300高阻计 /可测高电阻 微电流
    Huace-300高阻计 /可测高电阻 微电流

    更新时间:2025-07-29

    型号:Huace-300

    浏览量:6556

    Huace-300 高阻计 /可测高电阻 微电流,既可测量高电阻,又可测微电流。测量精度达到3‰。
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  • Huace DT-L3微小导通电阻测试系统
    Huace DT-L3微小导通电阻测试系统

    更新时间:2026-09-08

    型号:Huace DT-L3

    浏览量:20

    华测仪器Huace DT-L3微小导通电阻测试系统可在低高温交替的温度循环环境中,采用4端子测试法,对焊点、连接器接点等导体连接部位开展多通道高准度微小电阻连续监测,以此评估电子装配工艺的规范性及材料本身的连接可靠性。
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  • BOPP电容薄膜表面电位衰减系统
    BOPP电容薄膜表面电位衰减系统

    更新时间:2026-09-04

    型号:

    浏览量:61

    BOPP电容薄膜表面电位衰减系统是一款面向材料电学特性研究的高准度、多功能分析设备,为评估介质材料表面电荷动态衰减行为及陷阱能级分布而设计,集高压极化、准确温控、快速信号采集及智能化分析于一体.
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  • HC9023PCB基板绝缘材料电阻平台
    HC9023PCB基板绝缘材料电阻平台

    更新时间:2026-09-03

    型号:HC9023

    浏览量:69

    PCB基板绝缘材料电阻平台利用电阻测试系统,具有重复性与稳定性,优化了夹具的抗干扰能力,同时大大优化准确度,可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。
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  • Huace-EA25绝缘材料真空电热老化试验仪
    Huace-EA25绝缘材料真空电热老化试验仪

    更新时间:2026-08-31

    型号:Huace-EA25

    浏览量:72

    华测仪器Huace-EA25绝缘材料真空电热老化试验仪该设备通过模拟高压、高温及多气氛环境,对绝缘材料在长期电热复合应力下的性能变化进行加速老化测试,评估其耐久性、稳定性和寿命特性。
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