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  • FDS 2000半导体封装材料绝缘诊断测试系统/测试仪
    FDS 2000半导体封装材料绝缘诊断测试系统/测试仪

    更新时间:2024-09-05

    型号:FDS 2000

    浏览量:7778

    半导体封装材料绝缘诊断测试系统/测试仪,是基于电介质介电响应理论,集介电响应测试与绝缘状态评估及诊断一体的综合绝缘分析系统。是我们华测公司的优质仪器,售后好价格优请您放心的选购。
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  • FDS 2000半导体封装材料绝缘诊断分析仪/测试系统
    FDS 2000半导体封装材料绝缘诊断分析仪/测试系统

    更新时间:2025-07-29

    型号:FDS 2000

    浏览量:3533

    半导体封装材料绝缘诊断分析仪/测试系统,是基于电介质介电响应理论,集介电响应测试与绝缘状态评估及诊断一体的综合绝缘分析系统。该仪器的测试频率范围为1mHz-1kHz,且在低频范围内可以选用快速测试方式,在保证测试精度的前提下, 大幅减少实验室测量时的等待时间及现场测量的停电时间。
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  • HCLD-III触摸屏高压漏电起痕试验机测试仪器
    HCLD-III触摸屏高压漏电起痕试验机测试仪器

    更新时间:2025-09-11

    型号:HCLD-III

    浏览量:3422

    触摸屏高压漏电起痕试验机测试仪器产品简介,HCDH-200漏电起痕试验仪适用于照明设备、低压电器、家用电 器、机床电器、电机、电动工具、电子仪器、电工仪表、信息技术设备的研究、生产和质检部门,也适用于绝缘材料、工程塑料、电气连接件、辅件行业。,也适用 于电气能力验证计划与技术研讨会中的有关CHEARI-PT003耐电痕化指数测试。
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  • Huace-300高阻计 /可测高电阻 微电流
    Huace-300高阻计 /可测高电阻 微电流

    更新时间:2025-07-29

    型号:Huace-300

    浏览量:6692

    Huace-300 高阻计 /可测高电阻 微电流,既可测量高电阻,又可测微电流。测量精度达到3‰。
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  • HC9023高阻与绝缘电阻率表征平台
    HC9023高阻与绝缘电阻率表征平台

    更新时间:2026-10-21

    型号:HC9023

    浏览量:14

    华测仪器HC9023高阻与绝缘电阻率表征平台采用多项防护设计,测试过程中在过电压、过电流、超温等异常情况下以确保测试过程完成。
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  • HC9023绝缘电阻与电阻率表征平台
    HC9023绝缘电阻与电阻率表征平台

    更新时间:2026-10-21

    型号:HC9023

    浏览量:10

    华测仪器HC9023绝缘电阻与电阻率表征平台运用三电极法设计原理测量,利用电阻测试系统,具有重复性与稳定性。
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  • HC-Q37a高压器件介质损耗测试系统
    HC-Q37a高压器件介质损耗测试系统

    更新时间:2026-09-29

    型号:HC-Q37a

    浏览量:158

    华测仪器HC-Q37a高压器件介质损耗测试系统用户可以手动和自动模式之间进行选择。可选择手动模式测量,而自动模式则支持自动化试验序列。
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  • HC-Q37a绝缘材料介电常数测试系统
    HC-Q37a绝缘材料介电常数测试系统

    更新时间:2026-09-29

    型号:HC-Q37a

    浏览量:158

    华测仪器HC-Q37a绝缘材料介电常数测试系统用来测量高压器件(如绝缘材料)的介电常数及介电损耗功能。
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