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CGO-4半导体封装材料4英寸真空探针台带显微镜

更新时间：2025-08-18

型号：CGO-4

浏览量：1587

半导体封装材料4英寸真空探针台带显微镜是一种能够在高真空环境下进行精确测量和实验的设备。其基本原理是利用真空环境下的物理现象和特性，对样品进行各种实验和测量。在高真空环境中，气体分子很少，这有助于减少空气阻力、空气振动和其他干扰因素，从而获得较为准确和可靠的实验数据。
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CGO-2半导体材料真空探针台电学性能测试系统

更新时间：2025-08-18

型号：CGO-2

浏览量：1853

半导体材料真空探针台电学性能测试系统是一种能够在高真空环境下进行精确测量和实验的设备。其基本原理是利用真空环境下的物理现象和特性，对样品进行各种实验和测量。在高真空环境中，气体分子很少，这有助于减少空气阻力、空气振动和其他干扰因素，从而获得较为准确和可靠的实验数据。
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功能材料电测综合测试系统/铁电压电热释电

更新时间：2025-09-10

型号：

浏览量：1585

功能材料电测综合测试系统/铁电压电热释电，是用于铁电、热释电、压电材料和电卡材料各种重要性能参数测试的最基本仪器设备，可广泛地应用于如各种铁电/压电/热释电/电卡薄膜、厚膜、体材料和电子陶瓷、铁电传感器/执行器/存储器等领域的研究。它不仅可作为近代物理实验中的固体物理实验设备，还可作为工业化生产铁电存储器的铁电性能检测设备。
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电压击穿试验仪适用于电线套管树脂胶

更新时间：2025-09-10

型号：

浏览量：1681

GB标准电压击穿试验仪，化工绝缘材料专用采用计算机控制，可对试验过程中的各种数据进行快速、准确的采集、处理，并可存取、显示、打印。
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绝缘电阻劣化(离子迁移）评估系统

更新时间：2025-09-15

型号：

浏览量：1628

离子迁移是指电路板上的金属如铜、银、锡等在一定条件下发生离子化并在电场作用下通过绝缘层向另一极迁移而导致绝缘性能下降。绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统是一种信赖性试验设备。
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HCAM200V-40KV华测测试介电交直流高压功率放大器全系列

更新时间：2025-09-10

型号：HCAM200V-40KV

浏览量：1929

华测测试介电交直流高压功率放大器全系列是一种可放大交直流信号，在给定失真率条件下，能产生最大功率输出以驱动某一负载的实验室仪器。功率放大器的主要技术参数包括带宽、电压、功率、通道、压摆率、阻抗、增益等。为具体应用选择合适的功率放大器时，应考虑电压、功率、增益、带宽和波形等特性。
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评估绝缘材料劣化程度离子迁移评估系统

更新时间：2025-09-17

型号：

浏览量：1870

评估绝缘材料劣化程度离子迁移评估系统，离子迁移是指电路板上的金属如铜、银、锡等在一定条件下发生离子化并在电场作用下通过绝缘层向另一极迁移而导致绝缘性能下降。绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统是一种信赖性试验设备。
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计算机控制电压击穿仪，精确测试绝缘强度

更新时间：2025-08-11

型号：

浏览量：1959

计算机控制电压击穿仪，精确测试绝缘强度采用计算机控制，可对试验过程中的各种数据进行快速、准确的采集、处理，并可存取、显示、打印。
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