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  • Huace离子迁移(CAF)评估系统
    Huace离子迁移(CAF)评估系统

    更新时间:2026-03-12

    型号:Huace

    浏览量:23

    华测仪器离子迁移(CAF)评估系统离子迁移是指电路板上的金属如铜、银、锡等在一定条件下发生离子化并在电场作用下通过绝缘层向另一极迁移而导致绝缘性能下降。
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  • HuaceSIR绝缘电阻劣化(离子迁移)测试系统
    HuaceSIR绝缘电阻劣化(离子迁移)测试系统

    更新时间:2026-03-11

    型号:Huace

    浏览量:27

    华测仪器SIR绝缘电阻劣化(离子迁移)测试系统是通过在印刷电路板上施加固定的直流电压,并经过长时间的测试,观察线路是否有瞬间短路的现象发生。
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  • 绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统
    绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统

    更新时间:2025-09-15

    型号:

    浏览量:1352

    离子迁移是指电路板上的金属如铜、银、锡等在一定条件下发生离子化并在电场作用下通过绝缘层向另一极迁移而导致绝缘性能下降。绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统是一种信赖性试验设备。
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  • 评估绝缘材料劣化程度离子迁移评估系统
    评估绝缘材料劣化程度离子迁移评估系统

    更新时间:2025-09-17

    型号:

    浏览量:1589

    评估绝缘材料劣化程度离子迁移评估系统,离子迁移是指电路板上的金属如铜、银、锡等在一定条件下发生离子化并在电场作用下通过绝缘层向另一极迁移而导致绝缘性能下降。绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统是一种信赖性试验设备。
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