您好!欢迎访问北京华测试验仪器有限公司网站!
全国服务咨询热线:

13911821020

当前位置:首页 > 产品中心 > 新品推荐 >
  • HCDJC-1F变频耐压击穿试验系统
    HCDJC-1F变频耐压击穿试验系统

    更新时间:2026-04-07

    型号:HCDJC-1F

    浏览量:191

    华测仪器HCDJC-1F变频耐压击穿试验系统可测试绝缘材料在变频电压工况下的击穿强度、耐电压时间等指标。
    了解详情
  • Huace多通道离子迁移评估系统
    Huace多通道离子迁移评估系统

    更新时间:2026-03-19

    型号:Huace

    浏览量:128

    华测仪器多通道离子迁移评估系统离子迁移是指电路板上的金属如铜、银、锡等在一定条件下发生离子化并在电场作用下通过绝缘层向另一极迁移而导致绝缘性能下降。
    了解详情
  • HCDJC-1F5kV变频电压击穿试验仪
    HCDJC-1F5kV变频电压击穿试验仪

    更新时间:2026-03-19

    型号:HCDJC-1F

    浏览量:174

    华测仪器HCDJC-1F 5kV变频电压击穿试验仪是绝缘材料电气性能检测用升级设备,适配电力、电子、材料研发等行业,可测试绝缘材料在变频电压工况下的击穿强度、耐电压时间等指标。
    了解详情
  • HC-RD-1100Seebeck 系数电阻测试仪
    HC-RD-1100Seebeck 系数电阻测试仪

    更新时间:2026-03-17

    型号:HC-RD-1100

    浏览量:173

    华测仪器HC-RD-1100Seebeck 系数电阻测试仪可自动完成信号激励、数据采集、实时处理及结果输出全流程,并通过可视化界面直观呈现测试成果,提升了操作便捷性与测试效率。
    了解详情
  • Huace多通道绝缘电阻测试系统
    Huace多通道绝缘电阻测试系统

    更新时间:2026-03-17

    型号:Huace

    浏览量:200

    华测仪器多通道绝缘电阻测试系统是一款用于评估电子材料与元器件绝缘可靠性的信赖性试验设备,是用于捕捉高温、高湿、电场等复杂环境下,材料及元器件因离子迁移引发的绝缘电阻劣化过程。
    了解详情
  • HCMP多通道介电电阻测试模块
    HCMP多通道介电电阻测试模块

    更新时间:2026-03-16

    型号:HCMP

    浏览量:159

    华测仪器HCMP多通道介电电阻测试模块主要用于评估材料的介电性能与电阻特性,可以搭载阻抗分析仪、高阻计等设备使用。
    了解详情
  • HC-RD-1100热电材料塞贝克系数/电阻测试系统
    HC-RD-1100热电材料塞贝克系数/电阻测试系统

    更新时间:2026-03-12

    型号:HC-RD-1100

    浏览量:221

    华测仪器HC-RD-1100热电材料塞贝克系数/电阻测试系统该产品具有宽温区覆盖、高适应性、多功能集成等特点,主要服务于热电材料研发、新能源器件测试及半导体性能分析等领域。
    了解详情
  • Huace离子迁移(CAF)评估系统
    Huace离子迁移(CAF)评估系统

    更新时间:2026-03-12

    型号:Huace

    浏览量:185

    华测仪器离子迁移(CAF)评估系统离子迁移是指电路板上的金属如铜、银、锡等在一定条件下发生离子化并在电场作用下通过绝缘层向另一极迁移而导致绝缘性能下降。
    了解详情
共 155 条记录,当前 7 / 20 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
北京华测试验仪器有限公司
地址:北京海淀区
邮箱:LH13391680256@163.com
传真:
关注我们
欢迎您关注我们的微信公众号了解更多信息:
欢迎您关注我们的微信公众号
了解更多信息

京公网安备11011302007496号