北京华测*四探针测试仪

四探针测试仪

产品名称：四探针测试仪

产品型号：HCTZ-2S

品牌：北京华测

产品介绍

HCTZ-2S北京华测*四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。

HCTZ-2S双电测数字式北京华测*四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。利用电流探针、电压探针的变换，采用两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高准确度，也可应用于产品检测以及新材料电学研究等用途。

四探针软件测试系统是一个运行在计算机上拥有友好测试界面的用户程序，通过此测试程序辅助使用户简便地进行各项测试及获得测试数据并对测试数据进行统计分析。

测试程序控制四探针进行测量并采集测试数据，把采集到的数据在计算机中加以分析，然后把测试数据以表格，图形直观地记录、显示出来。用户可对采集到的数据在电脑中保存或者打印以备日后参考和查看，还可以把采集到的数据输出到Excel中，让用户对数据进行各种数据分析。

产品应用

HCTZ-2S四探针采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。采用芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，配备10英寸触摸屏，软件可保存和打印数据，自动生成报表；本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率，配备不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。

产品特点

2.多级循环温度采集技术： 设备采用PID算法，以及多级循环温度采集以保证温度的有效值。控温和测温采用同一个传感器，保证样品每次采集的温度都 是样品实际温度.
3.双系统互锁技术及隔离屏蔽技术： 本设备不仅具备过压、过流保护系统，它*的双系统互锁机制，当任何元器件出现问题或单系统出现故障时，将瞬间切断 电源。采用低通滤波电流检测技术以保证采集电流的有效值 ，以及电流抗干扰的屏蔽。
4.SPWM电子升压技术 目前设备大都采用SPWM电子升压技术，这一技术具有升压速度平稳，精度高。便于维护等优点是调压器*的。

软件平台

HCTZ-800系统搭配Labview系统开发的hcpro软件，具备弹性的自定义功能，可进行电压、电流、温度、时间等设置，符合导体、半导体材料与其他新材料测试多样化的需求。

测试系统的软件平台hcpro，采用labview系统开发，符合导体、半导体材料的各项测试需求，具备稳定性和an全性，并具备断电资料的保存功能，图像资料可保存恢复，兼容XP、win7、win10系统。

软件功能

1. 可编辑样品名称、牌号、试验条件、试验单位等；

2. 具有试验电压设置功能；

3. 可选择试验标准

4. 可选择是否自定义或自动试验

5. 截止条件：时间/电压/电流/温度;

6. 语音提示:可选择是否语音提示功能。

7. 统计报告：可自定报表格式

8. 可生出PDF、CSV、XLS文件格式

9. 分析功能：可对测试的数据进行统计。

技术参数

测量范围

电  阻：1×10^-4~2×10⁵Ω，     分辨率：1×10^-5~1×10²Ω

电阻率：1×10^-4~2×10⁵Ω-cm，  分辨率：1×10^-5~2×10²Ω-cm

方  阻：5×10^-4~2×10⁵Ω/□，  分辨率：5×10^-5~1×10²Ω/□

数字电压表

1. 量程：20.00mV~2000mV

2. 误差：±0.1%读数±2字

数控恒流源

1. 量程：0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA,1A

2. 误差：±0.1%读数±2字

四探针探头

1. 碳化钨探针：Ф0.5mm，直流探针间距1.0mm，探针压力：0~2kg可调

2. 薄膜方阻探针：Ф0.7mm，直流或方形探针间距2.0mm，探针压力：0~0.6kg可调

注意事项

1、仪器操作前请您仔细阅读使用说明书，规范操作

2、轻拿轻放，避免仪器震动，水平放置，垂直测量

3、仪器不使用时请切断电源，连接线无需经常拔下，避免灰尘进入航空插引起短接等现象

4、探针笔测试结束，套好护套，避免人为断针