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绝缘电阻劣化离子迁移评估系统/电路板测试

简要描述：绝缘电阻劣化离子迁移评估系统/电路板测试配之以高温高湿试验箱联动，可连续监测，高效简便评估因离子迁移现象引起的寿命及绝缘电阻劣化相关问题。适用标准：JPCA-ET04、IPC-TM-6502.6.3F、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A、IPC-TM-650_2.6.3.6。

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更新时间：2023-08-29
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品牌	北京华测	应用领域	电气,综合

面对电子产品越来越小型轻量及高密度封装，华测绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统配之以高温高湿试验箱联动，适用标准：JPCA-ET04、IPC-TM-6502.6.3F、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A、IPC-TM-650_2.6.3.6。

测试步骤：

一、从整盘线缆中截取样品线10m（不小于10m，测量误差应不超过1%），然后打弯两端剥开100mm放在水浴中，留在水外面的两端长度应不小于250mm。

二、接上电源，打开设备。接上设备的两根测试线，一根为红色的高压端接线缆线芯的导体上作为测试的一极，另一根黑色的低端测试线接上一个导体放在水中作为测试的另一极。

三、根据试验要求调节电压档旋钮选择需要的电压。然后开始调节电阻档旋钮，在调节的过程中一边调节一边注意数码管显示的数值直到数值发生变化，停止调节电阻档旋钮，此时调节定时器为60s，然后启动定时器并把测试旋钮调到测试位置。此时就开始测试了，定时60s结束后仪器会自动结束测试，此时数码管显示的数值乘以电阻档的调节旋钮对应的数值就是所取样品线的绝缘电阻值。

四、测试完毕后，应把测试旋钮调到放电状态，等1minutes中后取下样品和测试线。

五、完成测试。

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