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绝缘材料离子迁移评估系统

简要描述：华测仪器绝缘材料离子迁移评估系统，离子迁移是电子设备失效机制之一，指电路板上的铜、银、锡等金属离子在高温高湿及电场作用下发生离子化，通过绝缘层向另一极迁移，而导致绝缘性能下降、短路等故障。

产品型号：Huace
厂商性质：生产厂家
更新时间：2026-03-20
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品牌	华测仪器	产地类别	国产
应用领域	能源,航空航天,汽车及零部件,电气,综合

华测仪器绝缘材料离子迁移评估系统

价格仅供参考，如需获取更详尽的产品技术规格书、定制方案或应用案例，欢迎致电我司技术工程师

绝缘材料离子迁移评估系统由华测仪器生产，本系统通过模拟产品实际生产、使用、储存过程中的复杂环境，施加稳定电压并进行长期连续测试，记录绝缘电阻变化趋势、劣化速率及失效时间，评估绝缘材料劣化程度与离子迁移影响。它通过在印刷电路板上施加固定的直流电压，并经过长时间的测试（1~1000小时可按需定制），观察线路是否有瞬间短路的现象发生，并记录电阻值的变化状况，从而评估绝缘材料的劣化程度和离子迁移现象的影响。

技术指标

测量电压:100 ~ 1500V（可定制）

测试通道:128通道（可定制至高960通道）

测试时长:可连续运行1500小时

测试温度:85℃（可定制）

测试湿度:85%（可定制）

测量范围:1×10^5 ~ 1×10^15Ω

极化电压:100 ~ 1500V（可定制）

扫描周期:至快2分钟（128通道）

应用领域

电子材料：印BGA、CSP等节距IC封装件；

半导体：PPV、NDI、OFETs、OSCs、OLEDs等；

电子元器件：电容、连接器等其他电子元器件及材料；

绝缘材料：各种绝缘材料的吸湿性特性评估。

绝缘材料离子迁移评估系统

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