产品分类
Product Category详细介绍
| 品牌 | 华测仪器 | 产地类别 | 国产 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 能源,航空航天,汽车及零部件,电气,综合 |
华测仪器HCCT-40H多通道电容温频特性评估系统
价格仅供参考,如需获取更详尽的产品技术规格书、定制方案或应用案例,欢迎致电我司技术工程师
HCCT-40H多通道电容温频特性评估系统由华测仪器生产,系统通过准确控制温度环境,并测量电容器在不同温度下的关键参数(如电容量(C)、损耗因子(D)和阻抗(Z)等参数值),从而评估其温度特性。该系统稳定可靠,适用于包括多层陶瓷电容器(MLCC)、陶瓷电容、薄膜电容等各种类型的电容器。
产品优势
至多64个通道的自动测量
可以测量不同温度环境下的电容量(C)、损耗因子(D)和阻抗(Z),可选8个通道的倍数,至多64通道。
图形功能允许实时查看测量结果
收集的数据,包括不同温度、频率和时间下的电特性值和变化率,可以通过图形函数进行审查。
产品参数
测量项目:电容量 (C)、损耗系数 (D)、阻抗 (Z)、电阻 (Rs,Rp) 和电感 (Ls,Lp)
通道配置:8通道(标准);至多64通道可扩展8通道增量
测量方法:交流四端对测量
测量范围:测量频率:20Hz~1MHz
电容量(C):50pF~5mF
损失因子(D):0.00001~9.99999
阻抗(Z):0.00001Ω~99.9999MΩ

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