产品分类
Product Category详细介绍
| 品牌 | 华测仪器 | 产地类别 | 国产 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 能源,航空航天,汽车及零部件,电气,综合 |
华测仪器HCCT-40H MLCC电容器温度特性评估系统
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HCCT-40H MLCC电容器温度特性评估系统由华测仪器生产,测试时系统可自动识别开路、短路类异常阵元,将测试结果以图片、Excel 表格两种格式存入对应被测物型号专属文件夹。本系统兼顾操作便捷性与数据可追溯性,可满足研发验证、产线检测、故障排查等不同测试场景需求。
性能指标需求
测量性能
电容测量范围:1pF~1μF
测量准度:±0.3%
测试频率:固定1kHz
测试电平:0.1V~0.3V
测量模式:Cp并联电容模式,适配电容测量特性
设备稳定性
连续工作稳定性:设备开机预热 30min 后,重复测量同一标准电容,测量误差≤±0.2%;对同一被测物连续测试 100 次,数据重复误差≤±0.3%。
环境适应性:环境温度 20±5℃、相对湿度 40%~60% 且无强电磁干扰时,设备可稳定运行,测量数据无显著漂移。
接口与适配性
测试线接口:按被测物型号定制,适配线阵、凸阵、相控阵等常见接口,接触可靠,插拔顺畅。
测试板接口:预留通用对接接口,支持64/80/128通道测试线可切换。

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