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产品分类
Product Category详细介绍
| 品牌 | 华测仪器 | 产地类别 | 国产 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 能源,航空航天,汽车及零部件,电气,综合 |
华测仪器HCCT-40H多通道电容器温度特性测试系统
价格仅供参考，如需获取更详尽的产品技术规格书、定制方案或应用案例，欢迎致电我司技术工程师
HCCT-40H多通道电容器温度特性测试系统由华测仪器生产，系统可根据被测物型号、通道数定制对应测试线，通过软件校准减小线缆带来的测量误差，完成阵元电容准确测量。
性能指标需求
测量性能
电容测量范围：1pF~1μF
测量准度：± 0.3%
测试频率：固定 1kHz
测试电平：0.1V~0.3V
测量模式：Cp并联电容模式，适配电容测量特性
设备稳定性
连续工作稳定性：设备开机预热 30min 后，重复测量同一标准电容，测量误差≤±0.2%；对同一被测物连续测试 100 次，数据重复误差≤±0.3%；
环境适应性：环境温度 20±5℃、相对湿度 40%~60% 且无强电磁干扰时，设备可稳定运行，测量数据无显著漂移；
接口与适配性
测试线接口：按被测物型号定制，适配线阵、凸阵、相控阵等常见接口，接触可靠，插拔顺畅；
测试板接口：预留通用对接接口，支持64/80/128通道测试线切换；
通信接口：测试板通过 USB 与上位机通信，数据传输稳定无丢包；软件兼容 Windows10 及以上操作系统；
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