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产品分类
Product Category详细介绍
| 品牌 | 华测仪器 | 产地类别 | 国产 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 能源,航空航天,汽车及零部件,电气,综合 |
华测仪器绝缘可靠性（离子迁移）测试系统
价格仅供参考，如需获取更详尽的产品技术规格书、定制方案或应用案例，欢迎致电我司技术工程师
绝缘可靠性（离子迁移）测试系统由华测仪器生产，是一款用于评估电子材料与元器件绝缘可靠性的信赖性试验设备，是用于捕捉高温、高湿、电场等复杂环境下，材料及元器件因离子迁移引发的绝缘电阻劣化过程，准确判断失效风险，为产品研发、质控及失效分析提供科学数据支撑，普遍适配电子、汽车、新能源等多行业高可靠性产品的测试需求。
技术参数
测量电压:100 ~ 1500V（可定制）
测试通道:128通道（可定制至高960通道）
测试时长:可连续运行1500小时
测试温度:85℃（可定制）
测试湿度:85%（可定制）
测量范围:1×10^5 ~ 1×10^15Ω
极化电压:100 ~ 1500V（可定制）
扫描周期:至快2分钟（128通道）
应用领域
电子材料：印BGA、CSP等节距IC封装件；
封装材料：助焊剂、印刷电路板、光刻胶、钎料、树脂、导电胶等有关印刷电路板、密度高的封装材料；
半导体：PPV、NDI、OFETs、OSCs、OLEDs等；
电子元器件：电容、连接器等其他电子元器件及材料；
绝缘材料：各种绝缘材料的吸湿性特性评估。
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