高低温绝缘电阻测量系统

SIR-450高低温绝缘电阻测量系统

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SIR-450高低温绝缘电阻测量系统由华测仪器生产，用于预测EMC的HTRB性能。电介质样品暴露在高电场强度和高温环境下，在这种情况下，高分子聚合物材料在高温环境下具有负阻性的特征，电阻（率）随着温度的上升而下降，HTRB性能之间的相关性表明，随着温度的上升电阻率越下降严重，而HTRB性能越差，因此，材料的电阻率是HTRB失效测量的一个关键测量手段。

产品参数

温度范围：-100~350°C

控温精度：0.5°C

升温斜率：10℃/min（可设定）

电阻：1×10¹⁶Ω

电阻率：1×10³Ω~1×10¹⁶Ω

输入电压：220V

样品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm

电极材料：黄铜

夹具辅助材料：99氧化铝陶瓷

绝缘材料：99氧化铝陶瓷

测试功能：高低温电阻率

数据传输：RS-232

多种加温方式

匀速度加热试验；

阶梯式加热试验；

热循环试验（仅供反射炉）；

降温试验；

加速度升温（仅供反射炉）；

产品优势

除去电网谐波对采集精度的影响；

除去不规则输入的自动平均值功能；

采用测量前等待的方式，让材料受热更均匀。