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    高电场介电、损耗、漏电流测试系统

    更新时间:2024-12-30

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    高电场介电、损耗、漏电流测试系统可实现从低频到高频信号的输出与测量,系统由工控机发出指令,单片机控制FPGA发出测量波形,FPGA一路信号控制不同频率幅值的信号由高压放大器进行电压放大后,施加在样品上,另一路施加在锁相放大器作为参考信号,不同频率幅值的高压信号加载样样品上,样品测量的信号测量后,再回传FPGA测试板卡。测量的数据再由单片机回传工控机进行数据处理。
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