高低温绝缘电阻测试系统-北京华测试验仪器有限公司

当前位置：首页 > 产品中心 > 半导体封装材料测试系统 > 高低温绝缘电阻测试系统

产品分类

Product Category

半导体封装材料测试系统

电场介电损耗，漏电流测试系统 TSDC测试系统高低温绝缘电阻测试系统真空探针台

查看全部

半导体封装材料高低温绝缘电阻测试系统

更新时间：2025-08-01

型号：

浏览量：6155

半导体封装材料高低温绝缘电阻测试系统华测仪器通过多年研究开发了一种可实现高的精度温控，高屏蔽干扰信号的循环热风加热方式，在高速加热及高速冷却时，具有均匀的温度分布。可实现宽域均热区，高速加热、高速冷却，加热箱体整体密封，无气氛污染。
了解详情
SIR-450半导体宽温绝缘电阻测试系统

更新时间：2026-06-09

型号：SIR-450

浏览量：512

华测仪器SIR-450半导体宽温绝缘电阻测试系统采用Huacepro智能软件，符合功能材料的各项测试需求，具备稳定性与操作防护性，并具备断电资料的保存功能，图像资料也可保存恢复。
了解详情
SIR-450半导体材料高低温绝缘电阻率测试系统

更新时间：2026-06-09

型号：SIR-450

浏览量：584

华测仪器SIR-450半导体材料高低温绝缘电阻率测试系统环氧塑封料（EMC）对高功率半导体器件的高温反向偏压（HTRB）性能有重要控制作用，设备主要用于预测EMC的HTRB性能。
了解详情
SIR-450宽温半导体绝缘性能测试设备

更新时间：2026-06-09

型号：SIR-450

浏览量：535

华测仪器SIR-450宽温半导体绝缘性能测试设备用于预测EMC的HTRB性能，环氧塑封料对高功率半导体器件的高温反向偏压（HTRB）性能有重要控制作用。
了解详情
SIR-450半导体材料宽温域绝缘电阻测试系统

更新时间：2026-04-15

型号：SIR-450

浏览量：932

华测仪器SIR-450半导体材料宽温域绝缘电阻测试系统在电子产品中，电容器、电阻器、半导体器件等需要在不同温度下进行试验，以评估其性能和可靠性。
了解详情
SIR-450宽温域绝缘电阻测试系统

更新时间：2026-04-01

型号：SIR-450

浏览量：1084

华测仪器SIR-450宽温域绝缘电阻测试系统在电子产品中，电容器、电阻器、半导体器件等需要在不同温度下进行试验，以评估其性能和可靠性。
了解详情
SIR-450高低温绝缘电阻测量系统

更新时间：2026-03-24

型号：SIR-450

浏览量：831

华测仪器SIR-450高低温绝缘电阻测量系统搭载软件平台Huace pro ，符合功能材料的各项测试需求，具备*的稳定性与操作防护性，并具备断电资料的保存功能，图像资料也可保存恢复。
了解详情
SIR-450半导体封装材料高低温绝缘电阻测试系统

更新时间：2025-09-15

型号：SIR-450

浏览量：3115

半导体封装材料高低温绝缘电阻测试系统高低温环境下的绝缘电阻测试技术用于预测EMC的HTRB性能。电介质样品暴露在高电场强度和高温环境下。在这种情况下，高分子聚合物材料在高温环境下具有负阻性的特征，电阻（率）随着温度的上升而下降，HTRB性能之间的相关性表明，随着温度的上升电阻率越下降严重，而HTRB性能越差，因此，材料的电阻率是HTRB失效测量的一个关键测量手段。
了解详情

共 9 条记录，当前 1 / 2 页首页上一页下一页末页跳转到第页