宽温域绝缘电阻测试系统

华测仪器SIR-450宽温域绝缘电阻测试系统

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SIR-450宽温域绝缘电阻测试系统由华测仪器生产，高低温环境下的绝缘电阻测试技术用于预测EMC的HTRB性能。电介质样品暴露在高电场强度和高温环境下，在这种情况下，高分子聚合物材料在高温环境下具有负阻性的特征，电阻（率）随着温度的上升而下降，HTRB性能之间的相关性表明，随着温度的上升电阻率越下降严重，而HTRB性能越差，因此，材料的电阻率是HTRB失效测量的手段。

产品参数

温度范围：-100~350°C

控温精度：0.5°C

升温斜率：10℃/min（可设定）

电阻：1×10¹⁶Ω

电阻率：1×10³Ω~1×10¹⁶Ω

输入电压：220V

样品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm

电极材料：黄铜

夹具辅助材料：99氧化铝陶瓷

绝缘材料：99氧化铝陶瓷

测试功能：高低温电阻率

数据传输：RS-232

支持的硬件

1.多核高性能处理器

2.集成打印接口，可扩充8个USB接口

3.支持16g内存，250g固态硬盘

多种加温方式

匀速度加热试验

阶梯式加热试验

热循环试验（仅供反射炉）

降温试验

加速度升温（仅供反射炉）