宽温半导体绝缘性能测试设备

华测仪器SIR-450宽温半导体绝缘性能测试设备

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SIR-450宽温半导体绝缘性能测试设备由华测仪器生产，高低温环境下的绝缘电阻测试技术用于预测EMC的HTRB性能。电介质样品暴露在高电场强度和高温环境下，在这种情况下，高分子聚合物材料在高温环境下具有负阻性的特征，电阻（率）随着温度的上升而下降，HTRB性能之间的相关性表明，随着温度的上升电阻率越下降严重，而HTRB性能越差，因此，材料的电阻率是HTRB失效测量的一个测量手段。

产品参数

1.温度范围：-100 ~ 350°C

2.控温精度：0.5°C

3.升温斜率：10℃/min（可设定）

4.电阻：1×10¹⁶Ω

5.电阻率：1×10³Ω ~ 1×10¹⁶Ω

6.输入电压：220V

7.样品尺寸：φ ＜25mm，d ＜4mm

8.电极材料：黄铜

9.夹具辅助材料：99氧化铝陶瓷

10.绝缘材料：99氧化铝陶瓷

11.测试功能：高低温电阻率

华测仪器的业务涵盖从单台测试设备供应到整体实验室规划建设的全过程。建设绝缘材料或功能材料电性能检测实验室，华测仪器可提供从方案设计到交付验收的完整服务。