半导体材料高低温绝缘电阻率测试系统

华测仪器SIR-450半导体材料高低温绝缘电阻率测试系统

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SIR-450半导体材料高低温绝缘电阻率测试系统由华测仪器生产，介质样品暴露在高电场强度和高温环境下，在这种情况下，高分子聚合物材料在高温环境下具有负阻性的特征，电阻（率）随着温度的上升而下降，HTRB性能之间的相关性表明，随着温度的上升电阻率越下降严重，而HTRB性能越差，因此，材料的电阻率是HTRB失效测量的一个测量手段。

产品参数

温度范围：-100~350°C

控温精度：0.5°C

升温斜率：10℃/min（可设定）

电阻率：1×10³Ω~1×10¹⁶Ω

输入电压：220V

样品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm

测试功能：高低温电阻率

应用领域

电子元器件：在电子产品中，电容器、电阻器、半导体器件等需要在不同温度下进行试验，评估其性能和可靠性

新能源材料：对于新能源材料如锂电池和太阳能电池，高低温试验尤为重要

汽车零部件：汽车零部件需在不同的气候条件下进行试验，评估其耐用性和可靠性

半导体材料：半导体材料的电阻率测试在高低温条件下进行，可用于测量硅（Si）、锗（Ge）等材料的电阻率